| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 1 绪论 | 第8-13页 |
| 1.1 研究背景 | 第8-9页 |
| 1.2 研究现状 | 第9-10页 |
| 1.2.1 国外研究现状 | 第9-10页 |
| 1.2.2 国内研究现状 | 第10页 |
| 1.3 研究意义 | 第10-11页 |
| 1.4 主要工作 | 第11页 |
| 1.5 论文结构 | 第11-13页 |
| 2 CCD原理及系统设计分析 | 第13-19页 |
| 2.1 CCD的结构原理 | 第13-15页 |
| 2.1.1 CCD基本结构 | 第13-14页 |
| 2.1.2 CCD工作原理 | 第14-15页 |
| 2.2 CCD分类及性能分析 | 第15-16页 |
| 2.3 测控系统结构及设计 | 第16-18页 |
| 2.3.1 常见测控系统结构 | 第16-17页 |
| 2.3.2 本系统架构设计 | 第17-18页 |
| 2.3.3 本系统工作过程 | 第18页 |
| 2.4 本章小结 | 第18-19页 |
| 3 系统硬件平台设计 | 第19-38页 |
| 3.1 电源模块设计 | 第19-24页 |
| 3.1.1 系统电源设计原理分析 | 第19-20页 |
| 3.1.2 电源方案设计 | 第20-21页 |
| 3.1.3 电源板12V、5V选型及详设 | 第21-22页 |
| 3.1.4 主板电源选型及详设 | 第22-24页 |
| 3.2 采集模块设计 | 第24-28页 |
| 3.2.1 CCD模块详设 | 第24-26页 |
| 3.2.2 AD电路详设 | 第26-28页 |
| 3.3 接口电路设计 | 第28-32页 |
| 3.3.1 同步、编码器、通用IO及SD卡接口设计 | 第28-30页 |
| 3.3.2 通信、显示接口设计 | 第30-32页 |
| 3.4 EP3C25Q240C8N 设计 | 第32-35页 |
| 3.5 PCB的设计及硬件调试 | 第35-37页 |
| 3.6 本章小结 | 第37-38页 |
| 4 驱动及接口控制程序设计 | 第38-54页 |
| 4.1 编码器接口程序设计 | 第38-40页 |
| 4.2 CCD、AD驱动程序设计 | 第40-44页 |
| 4.2.1 CCD、AD驱动时序分析 | 第40-42页 |
| 4.2.2 CCD、AD驱动模块设计实现 | 第42-44页 |
| 4.3 SD卡存储模块设计 | 第44-49页 |
| 4.3.1 SD工作过程分析 | 第44-46页 |
| 4.3.2 SD初始化模块设计 | 第46-47页 |
| 4.3.3 SD读写模块设计 | 第47-49页 |
| 4.4 UDP模块设计 | 第49-53页 |
| 4.4.1 UDP通信原理 | 第49-50页 |
| 4.4.2 UDP通信模块设计 | 第50-53页 |
| 4.5 本章小结 | 第53-54页 |
| 5 数据处理及系统模块整合 | 第54-63页 |
| 5.1 帧数据预处理 | 第54-55页 |
| 5.2 数据波峰判断及峰值点计算 | 第55-57页 |
| 5.3 模块整合 | 第57-60页 |
| 5.3.1 顶层设计 | 第57-59页 |
| 5.3.2 数据处理子模块设计 | 第59页 |
| 5.3.3 传输通讯子模块设计 | 第59-60页 |
| 5.4 模块功能调试 | 第60-62页 |
| 5.5 本章小结 | 第62-63页 |
| 6 系统调试及性能分析 | 第63-70页 |
| 6.1 基于ILX554的光谱数据测量系统 | 第63-65页 |
| 6.2 基于TCD1209的导爆管质检系统 | 第65-69页 |
| 6.2.1 基于图像处理的透明管道质量检测原理 | 第65-67页 |
| 6.2.2 导爆管质检实现 | 第67-69页 |
| 6.3 本章小结 | 第69-70页 |
| 7 总结与展望 | 第70-72页 |
| 7.1 论文总结 | 第70页 |
| 7.2 展望 | 第70-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-76页 |
| 附录一、FPGA RTL顶层结构 | 第76-77页 |
| 附录二、CCD、电源PCB设计 | 第77-78页 |
| 附录三、成果 | 第78页 |