| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第10-13页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第10-11页 |
| 1.2 电机控制器电流校准及老化筛选的必要性 | 第11页 |
| 1.3 课题的主要内容 | 第11-13页 |
| 第二章 电机控制器的电流校准 | 第13-24页 |
| 2.1 电机控制器中采集电流的应用 | 第13-15页 |
| 2.2 电机控制器电流检测原理 | 第15-16页 |
| 2.3 霍尔电流传感器的制备 | 第16-19页 |
| 2.3.1 磁芯气隙 | 第16-18页 |
| 2.3.2 磁芯材料的选取 | 第18-19页 |
| 2.3.3 霍尔芯片的选取 | 第19页 |
| 2.4 电机控制器电流采集的误差分析 | 第19-20页 |
| 2.5 电机控制器电流系数的校准 | 第20-23页 |
| 2.5.1 LEM系列HTFS-800SP2传感器的介绍 | 第20-21页 |
| 2.5.2 电机控制器电流校准原理 | 第21-23页 |
| 2.6 本章小结 | 第23-24页 |
| 第三章 电机控制器的整机老化筛选 | 第24-33页 |
| 3.1 系统概述 | 第24页 |
| 3.2 产品早期失效 | 第24-26页 |
| 3.2.1 盆浴曲线 | 第24-25页 |
| 3.2.2 失效的原因 | 第25-26页 |
| 3.3 早期失效的应对方法 | 第26-28页 |
| 3.3.1 老化的定义 | 第26页 |
| 3.3.2 常用老化筛选方法 | 第26-27页 |
| 3.3.3 老化的时间 | 第27-28页 |
| 3.4 电机控制器的整机老化筛选 | 第28-32页 |
| 3.4.1 电机控制器整机老化筛选简介 | 第28-30页 |
| 3.4.2 电机控制器整机老化筛选原理 | 第30-32页 |
| 3.5 本章小结 | 第32-33页 |
| 第四章 电机控制器电流校准及老化一体设备 | 第33-60页 |
| 4.1 电流校准及老化一体设备硬件基本结构和工作原理 | 第33-35页 |
| 4.1.1 电流校准及老化一体设备基本结构 | 第33-34页 |
| 4.1.2 电流校准及老化一体设备工作原理 | 第34-35页 |
| 4.2 电流校准及老化一体设备硬件实现 | 第35-40页 |
| 4.2.1 硬件结构框图 | 第35-36页 |
| 4.2.2 电源模块 | 第36-37页 |
| 4.2.3 MCU模块 | 第37页 |
| 4.2.4 ADC采集模块 | 第37-38页 |
| 4.2.5 CAN通讯模块 | 第38-39页 |
| 4.2.6 开关控制模块 | 第39-40页 |
| 4.2.7 信号指示模块 | 第40页 |
| 4.3 电流校准及老化一体设备软件模型 | 第40-41页 |
| 4.4 档位扫描逻辑 | 第41-42页 |
| 4.5 电流校准及老化一体设备主逻辑模块 | 第42-50页 |
| 4.5.1 主逻辑模块构成 | 第42-43页 |
| 4.5.2 电流校准模块逻辑 | 第43-44页 |
| 4.5.3 老化模块逻辑 | 第44-46页 |
| 4.5.4 CAN通讯模块逻辑 | 第46-48页 |
| 4.5.5 错误检测模块逻辑 | 第48-50页 |
| 4.6 电流校准及老化一体设备实验 | 第50-59页 |
| 4.6.1 错误指示设计 | 第50-51页 |
| 4.6.2 电流校准及老化一体设备与控制器通讯协议设计 | 第51-57页 |
| 4.6.3 电流校准及老化一体设备与上位机通讯协议设计 | 第57-58页 |
| 4.6.4 上位机界面操作及介绍 | 第58-59页 |
| 4.7 本章小结 | 第59-60页 |
| 第五章 总结与展望 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-63页 |
| 作者简介 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64页 |
