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低压双电层氧化物薄膜晶体管的研究

摘要第1-7页
Abstract第7-12页
第1章 绪论第12-29页
   ·引言第12-13页
   ·薄膜晶体管的发展现状第13-18页
     ·不同半导体沟道TFT 的性能比较第13-14页
     ·氧化物半导体TFT 的综述第14-18页
   ·晶体管的分类及工作原理第18-21页
     ·晶体管的分类第18-19页
     ·薄膜晶体管的工作原理第19-20页
     ·薄膜晶体管的电学性能分析第20-21页
   ·薄膜晶体管的应用第21-24页
     ·薄膜晶体管在LCD 中的应用第21-23页
     ·薄膜晶体管在OLED 中的应用第23-24页
     ·薄膜晶体管在传感器中的应用第24页
   ·本文的选题依据第24-27页
   ·本文主要研究内容以及章节的安排第27-29页
第2章 低压双电层ITO 薄膜晶体管第29-43页
   ·引言第29页
   ·实验部分第29-33页
     ·磁控溅射法第29-31页
     ·等离子体增强化学气相沉积技术第31页
     ·双电层ITO 薄膜晶体管的制备第31-33页
   ·实验结果与讨论第33-41页
     ·ITO 薄膜的分析第33-35页
     ·介孔SiO_2 薄膜的分析第35-38页
     ·双电层的ITO 薄膜晶体管的性能分析第38-41页
   ·本章小结第41-43页
第3章 低压双电层透明ZnO 薄膜晶体管第43-54页
   ·引言第43-44页
   ·实验试剂和设备第44页
   ·低压透明ZnO 双电层薄膜晶体管的制备第44-45页
   ·实验结果与讨论第45-53页
     ·ZnO:Al 薄膜的结构和形貌分析第45-46页
     ·ZnO:Al 薄膜的电学和光学性能的分析第46-47页
     ·介孔SiO_2 的形貌和成分分析第47-48页
     ·介孔SiO_2 的电学性能分析第48-50页
     ·透明ZnO:Al 薄膜晶体管的性能以及光照对其性能的影响第50-53页
     ·透明ZnO:Al 薄膜晶体管的工作机理第53页
   ·本章小结第53-54页
第4章 低压双电层ITO 透明薄膜晶体管第54-67页
   ·引言第54页
   ·实验试剂和设备第54页
   ·ITO 透明薄膜晶体管的制备第54-56页
     ·ITO 透明薄膜晶体管的结构第54-55页
     ·ITO 透明薄膜晶体管的制备第55-56页
   ·实验结果与讨论第56-61页
     ·不同氧压下制备的ITO TTFT 的电学性能第56-60页
     ·ITO TTFT 的透光率第60-61页
   ·ITO 透明薄膜晶体管的稳定性第61-66页
   ·本章小结第66-67页
第5章 单掩模自组装低压双电层ITO 透明薄膜晶体管第67-78页
   ·引言第67页
   ·实验试剂和设备第67页
   ·单掩模自组装ITO 透明薄膜晶体管的制备过程第67-69页
   ·实验结果与讨论第69-76页
     ·单掩模自组装ITO TTFT 的沟道与电极薄膜第69-72页
     ·介孔SiO_2 的电学性能分析第72页
     ·单掩模自组装ITO TTFT 的电学性能分析第72-75页
     ·单掩模法制备的不同沟道厚度ITO TTFT 的电学性能分析第75-76页
   ·本章小结第76-78页
第6章 单掩模自组装低压ITO 纸张薄膜晶体管第78-88页
   ·引言第78页
   ·实验试剂和设备第78-79页
   ·单掩模自组装ITO 纸张薄膜晶体管的制备过程第79-80页
   ·单掩模自组装ITO 纸张薄膜晶体管的性能分析第80-87页
     ·纸张薄膜晶体管沟道与电极的形貌与电学性能分析第80-81页
     ·纸张上SiO_2 的形貌分析及电学性能分析第81-82页
     ·单掩模自组装ITO 纸张晶体管的电学性能分析第82-86页
     ·单掩模自组装ITO 纸张晶体管弯曲后的电学性能分析第86-87页
   ·本章小结第87-88页
结论第88-91页
 一、结论第88-89页
 二、展望第89-91页
参考文献第91-111页
致谢第111-112页
附录A 攻读学位期间发表的学术论文情况第112-113页

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