摘要 | 第4-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第10-18页 |
1.1 THGEM探测器简介 | 第10-12页 |
1.2 THGEM的工作原理 | 第12-13页 |
1.3 基于THGEM成像应用的读出结构和方法 | 第13-14页 |
1.3.1 电荷感应读出 | 第13-14页 |
1.3.2 雪崩发光读出 | 第14页 |
1.4 课题的研究背景及意义 | 第14-16页 |
1.4.1 国内外研究现状 | 第14-15页 |
1.4.2 选题的研究意义与目的 | 第15-16页 |
1.5 论文的结构 | 第16-18页 |
第二章 成像探测器用THGEM研制 | 第18-32页 |
2.1 FR-4基材THGEM研制 | 第18-20页 |
2.1.1 THGEM制作工艺介绍 | 第18-19页 |
2.1.2 FR-4基材THGEM制作 | 第19-20页 |
2.2 基于~(55)FE射线源的THGEM性能测试 | 第20-23页 |
2.2.1 实验装置 | 第20-22页 |
2.2.2 电子学系统刻度 | 第22-23页 |
2.3 FR-4基材THGEM性能测试 | 第23-26页 |
2.3.1 耐压性能测试 | 第23-24页 |
2.3.2 增益性能测试 | 第24-25页 |
2.3.3 能量分辨测量 | 第25-26页 |
2.4 多层THGEM (MULTI-LAYER THGEM, M-THGEM) | 第26-31页 |
2.4.1 M-THGEM简介 | 第26-28页 |
2.4.2 M-THEM性能测试 | 第28-31页 |
2.5 本章小结 | 第31-32页 |
第三章 THGEM测试用快速换气系统 | 第32-39页 |
3.1 探测器气体系统 | 第32-33页 |
3.2 真空换气法设想 | 第33-34页 |
3.3 快速换气系统的搭建 | 第34-38页 |
3.3.1 硬件安装 | 第34-35页 |
3.3.2 控制程序 | 第35-36页 |
3.3.3 实际使用情况 | 第36-38页 |
3.4 本章小结 | 第38-39页 |
第四章 光读出成像探测器制作 | 第39-47页 |
4.1 探测器腔室 | 第39-40页 |
4.2 光读出设备及工作气体的选择 | 第40-43页 |
4.3 探测器屏蔽装置及CCD相机的安装 | 第43-44页 |
4.3.1 避光盒的制作 | 第43页 |
4.3.2 电噪声屏蔽盒以及高压供电系统 | 第43-44页 |
4.4 光读出成像探测器组装 | 第44-45页 |
4.5 光学成像平台的搭建 | 第45-46页 |
4.6.1 X光管介绍及安装 | 第45-46页 |
4.6.2 光读出成像平台 | 第46页 |
4.6 本章小结 | 第46-47页 |
第五章 基于光读出的X射线成像研究 | 第47-56页 |
5.1 ITO导电玻璃透光率测试 | 第47页 |
5.2 成像用THGEM性能 | 第47-49页 |
5.3 相对光产额测试 | 第49-50页 |
5.4 X射线成像 | 第50-53页 |
5.4.1 ~(55)Fe放射源成像 | 第50-51页 |
5.4.2 X光管成像 | 第51-53页 |
5.5 位置分辨测量 | 第53-55页 |
5.6 本章小结 | 第55-56页 |
第六章 总结与展望 | 第56-59页 |
6.1 项目进展情况 | 第56-57页 |
6.2 总结 | 第57页 |
6.3 展望 | 第57-59页 |
参考文献 | 第59-64页 |
附录 | 第64-65页 |
致谢 | 第65-67页 |
攻读学位期间发表的学术论文目录 | 第67页 |