| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 目录 | 第7-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-13页 |
| 1.1 课题背景及其意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-12页 |
| 1.3 本文的主要工作 | 第12-13页 |
| 第2章 IGBT 特性分析及PSPICE建模原理 | 第13-23页 |
| 2.1 IGBT 的结构与工作原理 | 第13-14页 |
| 2.1.1 IGBT 的结构 | 第13页 |
| 2.1.2 IGBT 工作原理 | 第13-14页 |
| 2.2 IGBT 的特性分析 | 第14-16页 |
| 2.2.1 稳态特性 | 第14-15页 |
| 2.2.2 动态特性 | 第15-16页 |
| 2.3 PSPICE 建模原理 | 第16-22页 |
| 2.3.1 PSPICE 的功能和特点 | 第16-17页 |
| 2.3.2 PSPICE 的元器件模型 | 第17-22页 |
| 2.4 本章小结 | 第22-23页 |
| 第3章 IGBT 宽频等效电路模型及仿真分析 | 第23-43页 |
| 3.1 IGBT 等效电路及其仿真模型 | 第23-24页 |
| 3.2 IGBT 稳态模型 | 第24-29页 |
| 3.2.1 稳态模型参数配置及参数敏感度分析 | 第24-26页 |
| 3.2.2 IGBT 静态仿真与验证分析 | 第26-29页 |
| 3.3 IGBT 动态模型及开关暂态过程分析 | 第29-34页 |
| 3.3.1 IGBT 动态模型及参数灵敏度分析 | 第29-31页 |
| 3.3.2 IGBT 引线电感的计算 | 第31-32页 |
| 3.3.3 IGBT 动态模型仿真分析 | 第32-34页 |
| 3.4 IGBT 开关暂态过程的电磁干扰频谱估计 | 第34-36页 |
| 3.5 IGBT 开关过程电磁干扰的测量 | 第36-41页 |
| 3.5.1 测量仪器的介绍 | 第36-37页 |
| 3.5.2 IGBT 电磁骚扰测量试验 | 第37-41页 |
| 3.6 本章小结 | 第41-43页 |
| 第4章 IGBT开关损耗计算与分析 | 第43-52页 |
| 4.1 功率损耗理论 | 第43-44页 |
| 4.2 IGBT 开关暂态模型的能量损耗计算与分析 | 第44-51页 |
| 4.3 本章结论 | 第51-52页 |
| 第5章 结论 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-57页 |
| 研究生阶段发表的学术论文和参加科研情况 | 第57-58页 |
| 论文发表情况 | 第57页 |
| 科研情况 | 第57-58页 |
| 致谢 | 第58页 |