基于数字光栅投影的三维表面测量技术研究
| 致谢 | 第7-8页 |
| 摘要 | 第8-9页 |
| ABSTRACT | 第9-10页 |
| 第一章 绪论 | 第15-23页 |
| 1.1 引言 | 第15页 |
| 1.2 三维测量技术发展概况 | 第15-18页 |
| 1.2.1 接触式测量 | 第16页 |
| 1.2.2 非接触式测量 | 第16-18页 |
| 1.3 光栅投影条纹技术概述及研究现状 | 第18-21页 |
| 1.3.1 针对系统关系模型的研究现状 | 第18-19页 |
| 1.3.2 针对光栅条纹及处理方法的研究现状 | 第19-21页 |
| 1.4 本文研究主要内容及意义 | 第21-23页 |
| 1.4.1 课题来源及研究意义 | 第21-22页 |
| 1.4.2 论文的主要研究内容 | 第22-23页 |
| 第二章 投影光栅相位法关键问题研究 | 第23-35页 |
| 2.1 光学系统模型分析 | 第23-25页 |
| 2.1.1 高度矩阵的获取 | 第24-25页 |
| 2.2 相位信息的获取 | 第25-30页 |
| 2.3 真实相位的获取 | 第30-33页 |
| 2.3.1 相位展开解包裹技术原理 | 第31-32页 |
| 2.3.2 传统包裹技术的问题和局限 | 第32-33页 |
| 2.4 本章小结 | 第33-35页 |
| 第三章 系统模型和标定方法研究 | 第35-43页 |
| 3.1 传统测量系统关系模型分析 | 第35页 |
| 3.2 测量系统模型改进 | 第35-37页 |
| 3.2.1 高度矩阵的求取 | 第36-37页 |
| 3.3 系统标定方法研究 | 第37-42页 |
| 3.3.1 单步标定法 | 第37-38页 |
| 3.3.2 多步标定法 | 第38-42页 |
| 3.4 本章小结 | 第42-43页 |
| 第四章 双频参考栅投影技术 | 第43-58页 |
| 4.1 双频光栅法基本原理 | 第43-46页 |
| 4.2 改进的双频参考栅技术 | 第46-47页 |
| 4.2.1 新的双频复合光栅原理 | 第46-47页 |
| 4.2.2 双频复合光栅相位的求取 | 第47页 |
| 4.3 双频参考栅对比实验 | 第47-51页 |
| 4.4 提高相位图质量的方法 | 第51-57页 |
| 4.4.1 相位滤波技术研究 | 第51-56页 |
| 4.4.2 DLP离焦投影研究 | 第56-57页 |
| 4.5 本章小结 | 第57-58页 |
| 第五章 测量系统组建和实验 | 第58-69页 |
| 5.1 光栅投影测量系统组建 | 第58-61页 |
| 5.1.1 硬件设计和选型 | 第58-60页 |
| 5.1.2 测量软件编制 | 第60-61页 |
| 5.2 改进的系统模型验证实验 | 第61-65页 |
| 5.3 单频光栅实验 | 第65-66页 |
| 5.4 改进的双频参考栅实验 | 第66-68页 |
| 5.5 本章小结 | 第68-69页 |
| 第六章 总结与展望 | 第69-71页 |
| 6.1 论文总结 | 第69-70页 |
| 6.2 展望 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-74页 |
| 攻读硕士学位期间的学术活动及成果情况 | 第74页 |
