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磁控溅射法制备金属掺杂In2O3薄膜及其特性研究

摘要第6-8页
Abstract第8-10页
第一章 绪论第17-22页
    1.1 透明导电薄膜概述第17-18页
    1.2 In_2O_3薄膜的结构和相关性能第18页
    1.3 In_2O_3薄膜的研究进展第18-19页
    1.4 金属掺杂的In_2O_3薄膜的研究进展第19-20页
    1.5 论文的研究意义及主要内容第20-22页
第二章 In_2O_3薄膜的制备、退火和表征方法第22-29页
    2.1 In_2O_3薄膜制备方法第22-24页
    2.2 In_2O_3薄膜高温退火技术第24页
    2.3 In_2O_33薄膜表征方法第24-29页
第三章 In_2O_3薄膜的制备及其特性研究第29-48页
    3.1 Si衬底上In_2O_3薄膜的制备及结构特性第30-35页
        3.1.1 不同氩氧比率下Si衬底上沉积In_2O_3薄膜第30-31页
        3.1.2 不同溅射功率下Si衬底上沉积In_2O_3薄膜第31-32页
        3.1.3 不同溅射压强下Si衬底上沉积In_2O_3薄膜第32-33页
        3.1.4 不同溅射时间下Si衬底上沉积In_2O_3薄膜第33-35页
    3.2 载玻片衬底上In_2O_3薄膜的制备及结构特性第35-39页
        3.2.1 不同氩氧比率下载玻片衬底上沉积In_2O_3薄膜第35-36页
        3.2.2 不同溅射压强下载玻片衬底上沉积In_2O_3薄膜第36-37页
        3.2.3 不同溅射功率下载玻片衬底上沉积In_2O_3薄膜第37-38页
        3.2.4 不同溅射时间下载玻片衬底上沉积In_2O_3薄膜第38-39页
    3.3 退火温度对Si衬底上制备的In_2O_3薄膜结构影响第39-40页
    3.4 In_2O_3薄膜的表面形貌第40-43页
        3.4.1 最佳制备条件下Si衬底上制备的In_2O_3薄膜表面形貌第40-41页
        3.4.2 最佳制备条件下载玻片衬底上制备的In_2O_3薄膜表面形貌第41-42页
        3.4.3 退火处理的In_2O_3薄膜表面形貌第42-43页
    3.5 In_2O_3薄膜的电学特性第43-44页
    3.6 In_2O_3薄膜的光学特性第44-48页
        3.6.1 In_2O_3薄膜的反射光谱第44-46页
        3.6.2 In_2O_3薄膜的透射光谱第46-48页
第四章 金属掺杂In_2O_3薄膜的制备及其特性研究第48-61页
    4.1 Zn-In_2O_3薄膜的制备和特性研究第48-54页
        4.1.1 Zn-In_2O_3薄膜的结构特性第49-51页
        4.1.2 Zn-In_2O_3薄膜的电学特性第51-52页
        4.1.3 Zn-In_2O_3薄膜的光学特性第52-54页
    4.2 Al-In_2O_3薄膜的制备和特性研究第54-61页
        4.2.1 Al-In_2O_3薄膜的结构特性第55-57页
        4.2.2 Al-In_2O_3薄膜的电学特性第57-58页
        4.2.3 Al-In_2O_3薄膜的光学特性第58-61页
第五章 结论第61-63页
参考文献第63-70页
致谢第70-71页
附录:攻读硕士期间发表的文章第71-72页

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