深孔X射线荧光测井关键技术研究
| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 引言 | 第9-14页 |
| 1.1 选题依据与研究意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-12页 |
| 1.2.1 国外研究现状 | 第10-11页 |
| 1.2.2 国内研究现状 | 第11-12页 |
| 1.3 研究内容与研究成果 | 第12-14页 |
| 1.3.1 研究内容 | 第12-13页 |
| 1.3.2 研究成果 | 第13-14页 |
| 第2章 X射线荧光测井基本物理原理 | 第14-19页 |
| 2.1 X射线荧光测井定性分析 | 第14-16页 |
| 2.1.1 X射线基本物理性质 | 第14-15页 |
| 2.1.2 定性分析 | 第15-16页 |
| 2.2 X射线荧光测井定量分析 | 第16-19页 |
| 第3章 X射线荧光测井系统研究 | 第19-28页 |
| 3.1 X射线荧光测井系统结构 | 第19-24页 |
| 3.1.1 探管材料与结构 | 第19-20页 |
| 3.1.2 光管与探测器的选择 | 第20-22页 |
| 3.1.3 Be窗材料选择与厚度 | 第22-24页 |
| 3.2 测井探头制冷系统 | 第24-28页 |
| 3.2.1 制冷系统结构设计 | 第24-26页 |
| 3.2.2 测井温度实验 | 第26-28页 |
| 第4章 测井谱数据处理技术研究 | 第28-37页 |
| 4.1 谱数据处理步骤 | 第28-29页 |
| 4.2 谱线自动能量校正 | 第29-33页 |
| 4.2.1 谱漂校正流程 | 第29-30页 |
| 4.2.2 谱漂校正算法 | 第30-33页 |
| 4.3 谱线散射本底扣除 | 第33-34页 |
| 4.4 单峰高斯函数特征峰提取技术 | 第34-37页 |
| 第5章 X射线荧光测井定量分析模型 | 第37-58页 |
| 5.1 基体与散射峰计数率的关系 | 第38-43页 |
| 5.1.1 蒙特卡罗模拟 | 第39-42页 |
| 5.1.2 有效原子系数的确定 | 第42-43页 |
| 5.2 定量分析模型 | 第43-58页 |
| 5.2.1 改进型基本参数法 | 第43-50页 |
| 5.2.2 实验验证 | 第50-58页 |
| 结论 | 第58-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-64页 |
| 攻读学位期间取得学术成果 | 第64页 |
