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相变存储器单元热扩散特性及其测试系统研究

摘要第4-5页
Abstract第5页
1 绪论第8-13页
    1.1 相变存储器简介第8-11页
    1.2 本论文研究目的与内容结构第11-13页
2 相变单元热扩散特性测量方法及结果第13-26页
    2.1 相态扩散模型第13-15页
    2.2 热扩散特性测量装置及其测量方法第15-21页
    2.3 热扩散特性相关参数第21-25页
    2.4 本章小结第25-26页
3 相变存储器热扩散特性建模和模拟第26-40页
    3.1 Verilog-A语言和HSPICE软件介绍第26页
    3.2 相变存储单元SPICE仿真模型第26-27页
    3.3 仿真方法和结果分析第27-36页
    3.4 热累积温度的确定第36-39页
    3.5 本章小结第39-40页
4 相变单元I-V测量系统第40-56页
    4.1 相变存储器单元I-V测量第40-42页
    4.2 基于DSP的I-V测量系统第42-54页
    4.3 本章小结第54-56页
5 总结与展望第56-58页
    5.1 总结第56页
    5.2 展望第56-58页
致谢第58-59页
参考文献第59-63页
附录 攻读学位期间发表论文情况第63页

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