| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第8-12页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第8-9页 |
| 1.2 考虑寄生参数影响的开关特性研究现状 | 第9-11页 |
| 1.3 本课题主要研究内容 | 第11-12页 |
| 第2章 MOSFET 开关损耗数学建模 | 第12-27页 |
| 2.1 功率 MOSFET 器件非线性影响因素 | 第12-15页 |
| 2.1.1 转移特性的非线性 | 第13-14页 |
| 2.1.2 MOSFET 极间寄生电容的非线性 | 第14-15页 |
| 2.2 开关损耗的数学建模 | 第15-23页 |
| 2.2.1 开通过程 | 第15-21页 |
| 2.2.2 关断过程 | 第21-23页 |
| 2.3 开关损耗模型的仿真验证 | 第23-26页 |
| 2.4 本章小结 | 第26-27页 |
| 第3章 驱动速度优化设计 | 第27-37页 |
| 3.1 BOOST 电路开通约束条件研究 | 第27-32页 |
| 3.1.1 开通振荡约束 | 第27-29页 |
| 3.1.2 共源极电感反馈约束 | 第29-32页 |
| 3.1.3 开通驱动电阻选取步骤 | 第32页 |
| 3.2 BOOST 电路关断状态分析及约束条件研究 | 第32-36页 |
| 3.2.1 最大 dv dt 约束 | 第32-34页 |
| 3.2.2 关断电压应力约束 | 第34-36页 |
| 3.2.3 关断电阻选取步骤 | 第36页 |
| 3.3 本章小结 | 第36-37页 |
| 第4章 电路寄生参数提取 | 第37-46页 |
| 4.1 电路寄生参数来源及计算方法 | 第37-39页 |
| 4.1.1 寄生参数的来源 | 第37-38页 |
| 4.1.2 寄生参数计算方法 | 第38-39页 |
| 4.2 寄生参数软件提取精度验证 | 第39-41页 |
| 4.3 PCB 走线寄生参数影响因素分析 | 第41-45页 |
| 4.4 本章小结 | 第45-46页 |
| 第5章 寄生参数影响验证 | 第46-53页 |
| 5.1 BOOST 电路实验平台搭建 | 第46页 |
| 5.2 器件模型精度验证 | 第46-50页 |
| 5.2.1 MOSFET 器件模型精度验证 | 第47-48页 |
| 5.2.2 二极管模型精度验证 | 第48-50页 |
| 5.2.3 器件模型验证结论 | 第50页 |
| 5.3 开关波形仿真与实测比较 | 第50-51页 |
| 5.4 温升实测与仿真验证 | 第51-52页 |
| 5.5 本章小结 | 第52-53页 |
| 结论 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-59页 |
| 致谢 | 第59页 |