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PXI 200MSPS任意波形发生模块硬件设计

摘要第1-5页
ABSTRACT第5-8页
第一章 绪论第8-14页
   ·研究背景第8-9页
   ·国内外研究现状及发展态势第9-11页
   ·项目指标第11-13页
   ·本文主要任务第13-14页
第二章 总体方案设计第14-27页
   ·方案选择第14-19页
     ·波形合成方案选择第14-16页
     ·直接数字合成技术概述第16-18页
     ·存储方案介绍第18-19页
   ·数字部分总体方案第19-23页
     ·相位累加器模块第21-22页
     ·数据存储模块第22-23页
     ·数据处理模块第23页
     ·D/A 转换模块第23页
   ·模拟通道总体方案第23-26页
     ·滤波电路第24-25页
     ·幅度和偏移控制模块第25页
     ·方波产生模块第25页
     ·幅度调制模块第25-26页
     ·输出滤波器第26页
   ·本章小结第26-27页
第三章 数字部分设计第27-41页
   ·相位累加器的设计第27-28页
   ·相位查找表的设计第28-31页
     ·QDRII SRAM 架构简介第28-29页
     ·QDRII SRAM 控制器的FPGA 实现第29-31页
   ·数字调制功能的设计第31-38页
     ·频率调制与扫频第31-33页
     ·FSK 与PSK第33-36页
     ·Burst 调制第36-37页
     ·调制信号相关指标的分析第37-38页
   ·数模转换模块设计第38-40页
   ·本章小结第40-41页
第四章 模拟通道设计第41-57页
   ·滤波电路设计第41-46页
     ·DDS 输出信号幅频特性第42-43页
     ·滤波器的分类及选择第43-44页
     ·滤波处理第44-46页
   ·幅度和偏移控制电路设计第46-50页
     ·幅值精调电路第47-48页
     ·幅度粗调和加偏电路第48-50页
   ·方波生成电路设计第50-52页
   ·幅度调制电路设计第52-54页
     ·调幅方案选择第52-53页
     ·调幅波产生流程第53-54页
   ·输出定标第54-56页
   ·本章小结第56-57页
第五章 系统测试与验证第57-66页
   ·输出波形验证第57-59页
   ·系统采样率测试第59页
   ·波形存储深度验证第59-60页
   ·输出频率指标测试第60-61页
   ·正弦波频谱纯度特性测试第61-63页
   ·输出幅度指标测试第63-65页
   ·本章小结第65-66页
第六章 结论与展望第66-67页
致谢第67-68页
参考文献第68-70页
附录第70-71页
在校期间的研究成果第71-72页

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