基于电平扫描的局部放电检测特性分析及去噪与模式识别研究
| 摘要 | 第3-4页 |
| ABSTRACT | 第4-5页 |
| 1 绪论 | 第8-17页 |
| 1.1 选题研究背景及意义 | 第8-9页 |
| 1.2 局部放电检测方法 | 第9-10页 |
| 1.2.1 脉冲电流法 | 第9页 |
| 1.2.2 声测法 | 第9-10页 |
| 1.2.3 超高频法 | 第10页 |
| 1.3 局部放电超高频检测的研究现状 | 第10-15页 |
| 1.3.1 超高频法理论及应用研究现状 | 第10-12页 |
| 1.3.2 局部放电检测抗干扰研究现状 | 第12-14页 |
| 1.3.3 模式识别研究现状 | 第14-15页 |
| 1.3.4 超高频检测系统存在的问题 | 第15页 |
| 1.4 本文研究的主要内容 | 第15-17页 |
| 2 电平扫描法的原理及检测系统构成 | 第17-22页 |
| 2.1 引言 | 第17页 |
| 2.2 电平扫描式超高频法原理 | 第17-18页 |
| 2.3 电平扫描式超高频检测系统 | 第18-21页 |
| 2.3.1 天线传感器 | 第19-20页 |
| 2.3.2 信号预处理单元 | 第20-21页 |
| 2.3.3 信号采集单元 | 第21页 |
| 2.4 本章小结 | 第21-22页 |
| 3 电平扫描法的局部放电检测特性分析 | 第22-35页 |
| 3.1 引言 | 第22页 |
| 3.2 电平扫描法与传统检测法的谱图比较 | 第22-29页 |
| 3.2.1 试验平台 | 第22-23页 |
| 3.2.2 脉冲电流法 | 第23-24页 |
| 3.2.3 波形采集法 | 第24-25页 |
| 3.2.4 电平扫描法 | 第25-26页 |
| 3.2.5 谱图相关度 | 第26-28页 |
| 3.2.6 分析结论 | 第28-29页 |
| 3.3 电平扫描法获取谱图的影响因素分析 | 第29-34页 |
| 3.3.1 幅值检测的影响因素 | 第30-32页 |
| 3.3.2 放电脉冲统计的影响因素 | 第32-34页 |
| 3.4 本章小结 | 第34-35页 |
| 4 基于电平扫描法的干扰抑制及模式识别 | 第35-60页 |
| 4.1 引言 | 第35页 |
| 4.2 局部放电超高频干扰类型及特点 | 第35-38页 |
| 4.2.1 常见的干扰类型 | 第35页 |
| 4.2.2 超高频法检测中干扰信号的特点 | 第35-38页 |
| 4.3 基于电平扫描法的干扰抑制 | 第38-46页 |
| 4.3.1 减模板法 | 第38页 |
| 4.3.2 图像去噪法 | 第38-41页 |
| 4.3.3 数据分析法 | 第41-46页 |
| 4.4 基于电平扫描法的模式识别方法研究 | 第46-58页 |
| 4.4.1 几种典型缺陷的谱图特点 | 第46-50页 |
| 4.4.2 特征量的选取 | 第50-52页 |
| 4.4.3 支持向量机及原理 | 第52页 |
| 4.4.4 支持向量机识别过程 | 第52-58页 |
| 4.5 本章小结 | 第58-60页 |
| 5 结论 | 第60-61页 |
| 致谢 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-67页 |
| 附录 | 第67页 |
| A. 作者在攻读学位期间发表的论文 | 第67页 |
| B. 作者在攻读学位期间参与的科研项目目录 | 第67页 |
