窄线宽激光器线宽测量系统的研究
| 摘要 | 第4-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 研究背景 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-12页 |
| 1.3 论文主要工作和结构安排 | 第12-14页 |
| 参考文献 | 第14-16页 |
| 第二章 窄线宽半导体激光器线宽理论及测量方法 | 第16-26页 |
| 2.1 窄线宽半导体激光器线宽理论 | 第16-18页 |
| 2.1.1 线宽定义 | 第16页 |
| 2.1.2 影响窄线宽半导体激光器线宽的因素 | 第16-18页 |
| 2.2 窄线宽半导体激光器线宽测量方法 | 第18-23页 |
| 2.2.1 非平衡光纤干涉仪测量法 | 第18-19页 |
| 2.2.2 外差法 | 第19-20页 |
| 2.2.3 延时自零差法 | 第20-21页 |
| 2.2.4 延时自外差法 | 第21-22页 |
| 2.2.5 循环增益补偿延时自外差法 | 第22-23页 |
| 2.3 本章小结 | 第23-24页 |
| 参考文献 | 第24-26页 |
| 第三章 延迟自外差法线宽测量理论的研究 | 第26-36页 |
| 3.1 延迟自外差法线宽测量 | 第26-33页 |
| 3.1.1 延迟自外差法线宽测量的原理 | 第26-28页 |
| 3.1.2 长光纤延迟自外差法线宽测量的仿真 | 第28-29页 |
| 3.1.3 短光纤延迟自外差法线宽测量的仿真 | 第29-33页 |
| 3.2 改进的延迟自外差测量法 | 第33-34页 |
| 3.3 本章小结 | 第34-35页 |
| 参考文献 | 第35-36页 |
| 第四章 窄线宽半导体激光器线宽测量系统的研究 | 第36-47页 |
| 4.1 窄线宽半导体激光器线宽测量系统的方案设计 | 第36-41页 |
| 4.1.1 改进的延迟自外差法测量线宽的基本原理 | 第36-38页 |
| 4.1.2 声光移频器的移频效果测试 | 第38-41页 |
| 4.2 线宽测量系统中关键模块的工作原理 | 第41-44页 |
| 4.2.1 声光移频器 | 第41-43页 |
| 4.2.2 光纤延迟线 | 第43-44页 |
| 4.2.3 法拉第旋转镜 | 第44页 |
| 4.3 窄线宽半导体激光器线宽测量步骤 | 第44-45页 |
| 4.4 本章小结 | 第45页 |
| 参考文献 | 第45-47页 |
| 第五章 窄线宽半导体激光器线宽测量结果分析 | 第47-53页 |
| 5.1 线宽测量结果 | 第47-48页 |
| 5.2 线宽测量结果误差分析 | 第48-51页 |
| 5.2.1 光纤色散对测量结果的影响 | 第48-50页 |
| 5.2.2 光电探测器对测量结果的影响 | 第50页 |
| 5.2.3 激光器的频偏对测量结果的影响 | 第50-51页 |
| 5.3 本章小结 | 第51页 |
| 参考文献 | 第51-53页 |
| 第六章 总结与展望 | 第53-55页 |
| 6.1 总结 | 第53-54页 |
| 6.2 展望 | 第54-55页 |
| 缩略语 | 第55-56页 |
| 致谢 | 第56页 |
