声阻抗梯度材料及其在超声探头应用的研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 引言 | 第9-11页 |
| 1 绪论 | 第11-20页 |
| 1.1 无损检测 | 第11-12页 |
| 1.2 超声检测 | 第12-16页 |
| 1.2.1 超声检测方法介绍 | 第12-14页 |
| 1.2.2 超声探头研究概况 | 第14-16页 |
| 1.3 梯度功能材料 | 第16-18页 |
| 1.3.1 梯度功能材料的制备工艺 | 第16-17页 |
| 1.3.2 梯度功能材料在声学方面的研究 | 第17-18页 |
| 1.4 本文的研究内容 | 第18-20页 |
| 2 理论基础 | 第20-29页 |
| 2.1 超声学理论基础 | 第20-27页 |
| 2.1.1 超声学的基本概念 | 第20-22页 |
| 2.1.2 超声波在异质界面的传播特性 | 第22-27页 |
| 2.2 声阻抗梯度材料的制备原理 | 第27-29页 |
| 2.2.1 粉状热塑性酚醛树脂的包覆 | 第27页 |
| 2.2.2 颗粒沉降法 | 第27-29页 |
| 3 声阻抗梯度材料的制备过程及测试结果 | 第29-45页 |
| 3.1 制备工艺 | 第29-33页 |
| 3.1.1 实验材料 | 第29页 |
| 3.1.2 粉末的预处理 | 第29-30页 |
| 3.1.3 沉降液的选择和配比 | 第30-32页 |
| 3.1.4 梯度材料的制备过程 | 第32-33页 |
| 3.2 测试方法与结果分析 | 第33-44页 |
| 3.2.1 声阻抗和衰减系数的测试方法 | 第33-34页 |
| 3.2.2 测试结果与讨论 | 第34-43页 |
| 3.2.3 梯度材料的微观形貌 | 第43-44页 |
| 3.3 本章小结 | 第44-45页 |
| 4 超声探头的试制及基础数据测试 | 第45-63页 |
| 4.1 超声探头的结构设计 | 第45页 |
| 4.2 压电晶片特性简介及其参数测量 | 第45-51页 |
| 4.2.1 压电晶片特性介绍 | 第45-49页 |
| 4.2.2 声学参量测试方法与结果分析 | 第49-51页 |
| 4.3 声阻抗梯度材料作为背衬的应用 | 第51-56页 |
| 4.3.1 背衬的作用及技术要求 | 第51-52页 |
| 4.3.2 背衬的制作和粘结 | 第52-53页 |
| 4.3.3 粘结背衬的测试结果 | 第53-56页 |
| 4.4 匹配电路的设计与测试 | 第56-62页 |
| 4.4.1 匹配电路的基本原理 | 第56-57页 |
| 4.4.2 匹配电路的测试方法和设备 | 第57页 |
| 4.4.3 匹配电路的测试结果 | 第57-62页 |
| 4.5 保护膜的粘结 | 第62页 |
| 4.6 本章小结 | 第62-63页 |
| 5 试制的超声探头性能测试 | 第63-68页 |
| 5.1 试制探头的参数测试结果与分析 | 第63-65页 |
| 5.2 与国内的成品探头的性能对比 | 第65-66页 |
| 5.3 本章小结 | 第66-68页 |
| 结论 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-72页 |
| 攻读硕士学位期间发表学术论文情况 | 第72-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
