| 摘要 | 第6-8页 |
| Abstract | 第8-10页 |
| 第一章 绪论 | 第14-23页 |
| 1.1 课题研究背景与意义 | 第14-16页 |
| 1.2 残余应力检测研究进展 | 第16-18页 |
| 1.2.1 有损测量法 | 第16页 |
| 1.2.2 无损测量法 | 第16-17页 |
| 1.2.3 各种应力测试方法对比 | 第17-18页 |
| 1.3 超声波法残余应力技术 | 第18-20页 |
| 1.3.1 超声波法残余应力测试理论研究进展 | 第18-19页 |
| 1.3.2 超声波法工程使用现状 | 第19页 |
| 1.3.3 超声波法影响因素 | 第19-20页 |
| 1.4 超声焊接应力测试技术关键 | 第20-21页 |
| 1.5 本文主要研究内容 | 第21-23页 |
| 第二章 超声波法测试与信号计算原理 | 第23-41页 |
| 2.1 临界折射纵波(LCR)的产生机理 | 第23-24页 |
| 2.2 声弹性原理 | 第24-26页 |
| 2.3 LCR应力测试技术主要设备与原理 | 第26-27页 |
| 2.3.1 LCR应力测试技术主要设备 | 第26页 |
| 2.3.2 LCR应力测试设备工作原理 | 第26页 |
| 2.3.3 LCR残余应力测试技术标定 | 第26-27页 |
| 2.4 超声波信号处理 | 第27-39页 |
| 2.4.1 超声降噪原理 | 第27-29页 |
| 2.4.2 钢与铝合金降噪效果对比 | 第29-31页 |
| 2.4.3 LCR传播延迟计算 | 第31-39页 |
| 2.5 本章小结 | 第39-41页 |
| 第三章 超声波法误差影响源分析 | 第41-65页 |
| 3.1 微观组织对LCR入射角影响 | 第41-43页 |
| 3.1.1 方法与材料 | 第41-42页 |
| 3.1.2 LCR入射检测装置 | 第42页 |
| 3.1.3 微观组织对LCR入射角影响验证 | 第42-43页 |
| 3.2 材料各向异性影响 | 第43-46页 |
| 3.2.1 各向异性误差试验验证 | 第43-44页 |
| 3.2.2 各向异性误差分析 | 第44-46页 |
| 3.3 测试深度影响 | 第46-52页 |
| 3.3.1 不同频率测试深度试验 | 第46-49页 |
| 3.3.2 不同频率测试深度分析 | 第49页 |
| 3.3.3 不同频率探头K标定 | 第49-52页 |
| 3.4 多向应力对LCR应力测试结果影响 | 第52-54页 |
| 3.5 温度影响 | 第54-58页 |
| 3.5.1 温度影响分析 | 第54-55页 |
| 3.5.2 温度影响验证分析 | 第55-57页 |
| 3.5.3 温度影响修正模型建立 | 第57-58页 |
| 3.6 耦合状态对LCR测试结果影响 | 第58-64页 |
| 3.6.1 表面弧度对LCR测试影响 | 第58-60页 |
| 3.6.2 表面附着物对LCR测试结果影响 | 第60-62页 |
| 3.6.3 粗糙度对LCR测试结果影响 | 第62-64页 |
| 3.7 本章小结 | 第64-65页 |
| 第四章 LCR焊缝残余应力测试修正技术 | 第65-77页 |
| 4.1 平行样修正法材料与试验 | 第65-69页 |
| 4.1.1 试验材料与焊接工艺 | 第65-66页 |
| 4.1.2 硬度与微观金相检测 | 第66-67页 |
| 4.1.3 试验试样制备 | 第67-68页 |
| 4.1.4 标定样初始应力状态测试 | 第68页 |
| 4.1.5 应力常数K与t_0标定 | 第68-69页 |
| 4.1.6 修正验证试验 | 第69页 |
| 4.2 平行样修正法试验结果 | 第69-76页 |
| 4.2.1 微观组织对应力常数K的影响 | 第69-70页 |
| 4.2.2 微观组织对零应力状态传播时间t_0的影响 | 第70-71页 |
| 4.2.3 标定样初始应力σ_0对测试参数影响 | 第71-72页 |
| 4.2.4 测试结果修正与验证 | 第72-76页 |
| 4.3 本章小节 | 第76-77页 |
| 第五章 LCR焊缝残余应力测试在线修正技术 | 第77-92页 |
| 5.1 LCR-AV法材料与试验 | 第77-81页 |
| 5.1.1 试验材料与工艺 | 第77-78页 |
| 5.1.2 试样处理 | 第78-79页 |
| 5.1.3 各试样金相测试 | 第79页 |
| 5.1.4 LCR衰减度(V)与t_0测试 | 第79页 |
| 5.1.5 应力常数K标定 | 第79-80页 |
| 5.1.6 WZ区域K与t_0测试标定 | 第80页 |
| 5.1.7 LCR-AV法焊接接头残余应力测试 | 第80-81页 |
| 5.2 LCR-AV测试结果与讨论 | 第81-90页 |
| 5.2.1 热处理工艺对析出相与晶粒度影响 | 第81-83页 |
| 5.2.2 析出相对K、V与t_0的影响 | 第83-84页 |
| 5.2.3 WZ区域K与t_0分析 | 第84-85页 |
| 5.2.4 不同晶粒度状态t_0与V关系建立 | 第85-86页 |
| 5.2.5 不同晶粒度状态K与V关系建立 | 第86-87页 |
| 5.2.6 LCR-AV技术模型建立与验证 | 第87-90页 |
| 5.3 本章小节 | 第90-92页 |
| 结论及展望 | 第92-94页 |
| 致谢 | 第94-95页 |
| 参考文献 | 第95-100页 |
| 攻读硕士学位期间承担的科研任务及主要成果 | 第100页 |
| 一、攻读硕士学位期间承担的科研课题 | 第100页 |
| 二、攻读硕士学位期间发表的相关论文 | 第100页 |
| 三、攻读硕士学位期间申请的专利 | 第100页 |