EMCCD光电性能参数测试方法研究
| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 1 绪论 | 第7-13页 |
| 1.1 微光夜视技术 | 第7-10页 |
| 1.1.1 微光成像CCD的发展和现状 | 第7-9页 |
| 1.1.2 CCD测试的发展和现状 | 第9-10页 |
| 1.2 本文的研究背景和研究意义 | 第10-12页 |
| 1.3 本文研究内容 | 第12-13页 |
| 2 EMCCD测试参数分析 | 第13-25页 |
| 2.1 EMCCD的结构和工作原理 | 第13-15页 |
| 2.2 EMCCD光电性能参数 | 第15-23页 |
| 2.2.1 光子转移技术 | 第15-16页 |
| 2.2.2 PTC曲线 | 第16-18页 |
| 2.2.3 转换增益与倍增增益 | 第18-22页 |
| 2.2.4 量子效率与光谱响应度 | 第22-23页 |
| 2.2.5 线性度 | 第23页 |
| 2.2.6 EMCCD坏像元测试 | 第23页 |
| 2.3 国家军用标准和EMVA1288标准简介 | 第23-24页 |
| 2.4 本章小结 | 第24-25页 |
| 3 EMCCD光电参数测试平台设计 | 第25-37页 |
| 3.1 光学系统 | 第25-34页 |
| 3.1.1 光源的选型 | 第25-27页 |
| 3.1.2 宽光谱单色仪 | 第27页 |
| 3.1.3 单色仪对光强的损耗 | 第27-28页 |
| 3.1.4 积分球 | 第28-31页 |
| 3.1.5 积分球对光强的损耗 | 第31页 |
| 3.1.6 标准探测器与照度计 | 第31-34页 |
| 3.1.7 光学系统其他器件 | 第34页 |
| 3.2 电子学系统 | 第34-35页 |
| 3.3 本章小结 | 第35-37页 |
| 4 EMCCD测试结果与误差分析 | 第37-57页 |
| 4.1 EMCCD测试平台校准与准备 | 第37-38页 |
| 4.2 光电参数测试方案 | 第38-52页 |
| 4.2.1 转换增益与满阱容量 | 第38-42页 |
| 4.2.2 倍增增益 | 第42-44页 |
| 4.2.3 量子效率与光谱响应度 | 第44-47页 |
| 4.2.4 线性度 | 第47-48页 |
| 4.2.5 坏像元的检测 | 第48-52页 |
| 4.3 测量不确定度评定 | 第52-56页 |
| 4.3.1 测量不确定度评定步骤 | 第52-55页 |
| 4.3.2 EMCCD器件测试不确定度评定 | 第55-56页 |
| 4.4 本章小结 | 第56-57页 |
| 5 总结与展望 | 第57-59页 |
| 致谢 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-64页 |
| 附录 | 第64页 |
