刻录机产品性能测试及改进研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 目录 | 第6-8页 |
| 1 绪论 | 第8-11页 |
| 1.1 刻录机简介 | 第8页 |
| 1.2 研究背景和意义 | 第8-9页 |
| 1.3 主要研究内容 | 第9-11页 |
| 2 刻录机产品的性能测试 | 第11-29页 |
| 2.1 刻录机电气性能测试 | 第11-14页 |
| 2.2 刻录机EMC相关测试 | 第14-23页 |
| 2.2.1 电磁干扰(EMI)测试 | 第15-19页 |
| 2.2.2 电磁抗扰度(EMS)测试 | 第19-23页 |
| 2.3 刻录机安规性能测试 | 第23-25页 |
| 2.3.1 产品绝缘耐压测试 | 第23-24页 |
| 2.3.2 设备温升测试 | 第24-25页 |
| 2.4 刻录机环境可靠性测试 | 第25-28页 |
| 2.5 本章小结 | 第28-29页 |
| 3 显示窗显示异常问题点的再现及对策 | 第29-40页 |
| 3.1 显示窗显示异常问题再确认 | 第29页 |
| 3.2 显示窗显示异常问题原因查找 | 第29-38页 |
| 3.2.1 软件代码分析 | 第29-32页 |
| 3.2.2 变更点分析 | 第32-35页 |
| 3.2.3 时间偶发性的原因分析 | 第35-38页 |
| 3.3 显示窗显示异常问题点对策 | 第38-39页 |
| 3.4 本章小结 | 第39-40页 |
| 4 静电抗扰测试不合格问题点改进 | 第40-48页 |
| 4.1 静电不合格原因分析 | 第40-43页 |
| 4.2 静电不合格问题点改进 | 第43-47页 |
| 4.3 本章小结 | 第47-48页 |
| 5 温升测试不合格问题点改进 | 第48-55页 |
| 5.1 温升测试不合格原因分析 | 第48-50页 |
| 5.2 温升试验不合格问题点改进 | 第50-54页 |
| 5.3 本章小结 | 第54-55页 |
| 结论 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
