摘要 | 第4-6页 |
Abstract | 第6-8页 |
第1章 绪论 | 第13-34页 |
1.1 超快诊断技术 | 第13-14页 |
1.2 惯性约束聚变 | 第14-17页 |
1.2.1 惯性约束聚变简介 | 第14-16页 |
1.2.2 惯性约束聚变诊断技术 | 第16-17页 |
1.3 X射线分幅相机发展概述 | 第17-31页 |
1.3.1 栅极快门式分幅相机 | 第18-20页 |
1.3.2 扫描式分幅相机 | 第20-22页 |
1.3.3 近贴式阴极选通分幅相机 | 第22-24页 |
1.3.4 行波选通分幅相机 | 第24-29页 |
1.3.5 时间展宽分幅相机 | 第29-31页 |
1.4 本论文的内容和创新点 | 第31-34页 |
1.4.1 本论文的主要研究内容 | 第32-33页 |
1.4.2 本论文创新点 | 第33-34页 |
第2章 时间展宽分幅变像管系统和工作原理描述 | 第34-42页 |
2.1 引言 | 第34页 |
2.2 短磁聚焦时间展宽分幅变像管系统 | 第34-35页 |
2.3 电子束产生与传输系统的工作原理 | 第35-36页 |
2.4 磁透镜成像系统工作原理 | 第36-40页 |
2.4.1 磁透镜的类型 | 第36-37页 |
2.4.2 磁透镜的聚焦原理和磁场中的电子轨迹 | 第37-38页 |
2.4.3 磁透镜的球差 | 第38-39页 |
2.4.4 磁透镜的场曲 | 第39-40页 |
2.5 微通道板(MCP)分幅变像管 | 第40-41页 |
2.5.1 微通道板 | 第40页 |
2.5.2 MCP选通分幅变像管的工作原理 | 第40-41页 |
2.6 本章小结 | 第41-42页 |
第3章 时间展宽分幅变像管时间分辨性能理论研究 | 第42-54页 |
3.1 引言 | 第42页 |
3.2 技术时间分辨率理论研究 | 第42-45页 |
3.2.1 电子束时间展宽原理 | 第42-44页 |
3.2.2 影响电子束时间展宽倍率的因素分析 | 第44-45页 |
3.3 物理时间分辨率理论研究 | 第45-50页 |
3.3.1 阴栅间电子初能分布引起的渡越时间弥散 | 第45-46页 |
3.3.2 空间电荷效应引起的渡越时间弥散 | 第46-50页 |
3.4 模拟结果 | 第50-53页 |
3.5 本章小结 | 第53-54页 |
第4章 时间展宽分幅变像管空间分辨性能理论研究 | 第54-73页 |
4.1 引言 | 第54页 |
4.2 空间分辨率模拟 | 第54-65页 |
4.2.1 磁透镜的磁场计算方法 | 第54-59页 |
4.2.2 龙格库塔法 | 第59-60页 |
4.2.3 阴极发射光电子模型 | 第60-61页 |
4.2.4 采用空间调制传递函数计算空间分辨率的过程 | 第61-62页 |
4.2.5 模拟结果 | 第62-65页 |
4.3 影响像管空间分辨性能的因素分析 | 第65-68页 |
4.3.1 阴极电压对像管空间分辨性能的影响 | 第65-67页 |
4.3.2 阴栅间距对像管空间分辨性能的影响 | 第67-68页 |
4.4 像管成像面模拟 | 第68-71页 |
4.4.1 模拟条件 | 第68页 |
4.4.2 单磁透镜像管成像面 | 第68-69页 |
4.4.3 双磁透镜像管成像面 | 第69-71页 |
4.5 单/双磁透镜像管空间分辨性能对比 | 第71-72页 |
4.6 本章小结 | 第72-73页 |
第5章 时间展宽分幅像管静态性能测试 | 第73-91页 |
5.1 引言 | 第73页 |
5.2 短磁聚焦时间展宽分幅变像管 | 第73-74页 |
5.3 空间分辨率标定准则 | 第74-76页 |
5.4 MCP行波选通分幅变像管空间分辨率测试 | 第76-77页 |
5.5 短磁聚焦时间展宽分幅变像管空间分辨率测试和分析 | 第77-80页 |
5.5.1 测试平台 | 第77-78页 |
5.5.2 测试条件 | 第78页 |
5.5.3 测试结果与分析 | 第78-80页 |
5.6 成像比例 2:1 的空间分辨性能测试和分析 | 第80-84页 |
5.6.1 测试平台 | 第80-81页 |
5.6.2 测试条件 | 第81页 |
5.6.3 测试结果与分析 | 第81-84页 |
5.7 场曲对变像管空间分辨性能的影响 | 第84-87页 |
5.8 阴栅间距对变像管空间分辨性能的影响 | 第87-89页 |
5.9 短磁聚焦时间展宽分幅变像管静态性能的特点 | 第89-90页 |
5.10 本章小结 | 第90-91页 |
第6章 时间展宽分幅变像管动态性能测试 | 第91-100页 |
6.1 引言 | 第91页 |
6.2 动态性能测试系统和测试条件 | 第91-94页 |
6.2.1 测试系统 | 第91-92页 |
6.2.2 测试方案 | 第92-93页 |
6.2.3 电脉冲参数 | 第93-94页 |
6.2.4 测试条件 | 第94页 |
6.3 时间分辨率测试结果 | 第94-97页 |
6.4 动态空间分辨率测试结果 | 第97-98页 |
6.4.1 动态空间分辨率标定方法 | 第97页 |
6.4.2 像管动态空间分辨率的标定 | 第97-98页 |
6.5 本章小结 | 第98-100页 |
第7章 总结与展望 | 第100-102页 |
7.1 总结 | 第100-101页 |
7.2 展望 | 第101-102页 |
参考文献 | 第102-112页 |
致谢 | 第112-113页 |
攻读博士学位期间的研究成果 | 第113页 |