| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 缩略词对照表 | 第16-18页 |
| 第1章 绪论 | 第18-24页 |
| 1.1 引言 | 第18-19页 |
| 1.2 工业物料成分分析技术简介 | 第19-20页 |
| 1.3 基于PGNAA技术的检测系统介绍 | 第20-21页 |
| 1.4 基于PGNAA技术的检测系统国内发展现状 | 第21-24页 |
| 第2章 工业物料成分检测系统设计需求 | 第24-30页 |
| 2.1 基于PGNAA技术的物料成分检测系统原理 | 第24-25页 |
| 2.2 基于PGNAA技术的检测系统关键技术 | 第25-28页 |
| 2.2.1 小型化长寿命中子源 | 第25页 |
| 2.2.2 高能量分辨和探测效率的探测器 | 第25-27页 |
| 2.2.3 高计数率读出电子学系统 | 第27-28页 |
| 2.3 系统可靠性要求 | 第28-30页 |
| 第3章 PGNAA高计数率读出电子学系统设计方案 | 第30-36页 |
| 3.1 系统结构设计 | 第30-31页 |
| 3.2 关键技术设计方案 | 第31-36页 |
| 3.2.1 闪烁体探测器信号读出电路原理 | 第31-33页 |
| 3.2.2 成形与基线恢复电路原理 | 第33-34页 |
| 3.2.3 高速ADC选择 | 第34页 |
| 3.2.4 数据读出方式 | 第34-36页 |
| 第4章 读出电子学系统设计 | 第36-68页 |
| 4.1 原理电路设计 | 第36-47页 |
| 4.1.1 高计数率PMT信号读出电路设计 | 第36页 |
| 4.1.2 成形与基线恢复电路设计 | 第36-39页 |
| 4.1.3 高速采样电路设计 | 第39-44页 |
| 4.1.4 探测器高压控制电路设计 | 第44-45页 |
| 4.1.5 总线接口与数据传输电路设计 | 第45-47页 |
| 4.2 硬件结构及电路板设计 | 第47-49页 |
| 4.2.1 PXI机箱及总线控制器介绍 | 第47-48页 |
| 4.2.2 基于PXI总线的电路板设计 | 第48-49页 |
| 4.2.3 光电倍增管分压及信号读出电路板设计 | 第49页 |
| 4.3 硬件逻辑设计 | 第49-58页 |
| 4.3.1 多道测量逻辑电路设计 | 第51-55页 |
| 4.3.2 PXI总线接口与数据收发逻辑电路设计 | 第55-57页 |
| 4.3.3 高压控制逻辑电路设计 | 第57-58页 |
| 4.4 梯形数字滤波算法设计 | 第58-59页 |
| 4.5 上位机测试软件设计 | 第59-62页 |
| 4.5.1 PXI控制器端数据采集测试软件设计 | 第59-61页 |
| 4.5.2 用于远程网络连接的服务器程序设计 | 第61-62页 |
| 4.6 基于以太网总线的数据采集系统一体机 | 第62-68页 |
| 4.6.1 机械结构设计 | 第62-64页 |
| 4.6.2 数据采集电路改进 | 第64-67页 |
| 4.6.3 一体机数据采集电路板设计 | 第67-68页 |
| 第5章 系统测试与应用分析 | 第68-84页 |
| 5.1 关键指标电子学测试 | 第68-76页 |
| 5.1.1 计数率测试 | 第68-71页 |
| 5.1.2 基线噪声水平测试 | 第71页 |
| 5.1.3 电子学分辨率及多道非线性测试 | 第71-73页 |
| 5.1.4 高压控制线性测试 | 第73-75页 |
| 5.1.5 温度稳定性测试 | 第75-76页 |
| 5.2 有放射源的能谱采集测试 | 第76-82页 |
| 5.2.1 系统结构功能测试 | 第76-77页 |
| 5.2.2 高仿真条件下的能量分辨率及计数损失对比测试 | 第77-78页 |
| 5.2.3 现场条件下长时间煤炭样品成分分析测试 | 第78-82页 |
| 5.3 总体评价 | 第82-84页 |
| 第6章 总结与展望 | 第84-86页 |
| 6.1 本论文内容总结 | 第84-85页 |
| 6.2 展望 | 第85-86页 |
| 参考文献 | 第86-88页 |
| 附录A 上位机软件界面 | 第88-92页 |
| 致谢 | 第92-94页 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的研究成果 | 第94页 |