首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--半导体技术论文--半导体二极管论文--二极管:按结构和性能分论文

基于APD的光子成像技术研究

摘要第1-5页
ABSTRACT第5-8页
第一章 绪论第8-13页
   ·光子计数成像发展概述第8-9页
   ·APD光子计数成像的原理和特点第9-11页
     ·APD特殊全固态结构第9-10页
     ·高灵敏度、高帧频数字化成像第10-11页
   ·国内外研究现状第11-12页
   ·本论文研究内容第12-13页
第二章 光子计数技术第13-24页
   ·引言第13页
   ·单光子探测器第13-20页
     ·光电倍增管(PMT)第13-15页
     ·电耦合器件(CCD)第15-16页
     ·雪崩二极管(APD)第16-18页
     ·雪崩二极管阵列(APD array)第18-20页
   ·单光子探测器性能参数第20页
   ·光子计数分布第20-21页
   ·APD的光子计数反演模型第21-24页
第三章 APD光子计数外围抑制电路研究第24-37页
   ·引言第24-25页
   ·APD的外围抑制电路研究第25-36页
     ·前期信号采集电路第25-31页
     ·后期处理电路第31-36页
   ·小结第36-37页
第四章 基于APD阵列的非扫描成像系统第37-41页
   ·引言第37页
   ·非扫描成像第37-40页
     ·基于三种不同成像体制的非扫描激光成像雷达第37-39页
     ·三种方法的性能比较第39-40页
   ·非扫描成像的优点与发展方向第40-41页
第五章 总结和展望第41-42页
   ·论文总结第41页
   ·论文展望第41-42页
致谢第42-43页
参考文献第43-45页

论文共45页,点击 下载论文
上一篇:多层不同周期频率选择表面的电磁响应特性研究
下一篇:“日盲”紫外目标信号接收系统设计