0.13μm CMOS逐次逼近型模数转换器的设计
摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-5页 |
目录 | 第5-7页 |
第一章 绪论 | 第7-13页 |
·模数转换器的发展 | 第7-10页 |
·SAR ADC 的应用 | 第10-11页 |
·论文的研究背景及主要内容 | 第11-13页 |
第二章 数模转换器 | 第13-23页 |
·数模转换器的工作原理 | 第13-14页 |
·数模转换器的性能指标 | 第14-17页 |
·DAC 的静态特性 | 第15-16页 |
·DAC 的动态特性 | 第16-17页 |
·数模转换器的分类 | 第17-21页 |
·电流按比例缩放 DAC | 第17-19页 |
·电压按比例缩放 DAC | 第19-21页 |
·电荷按比例缩放 DAC | 第21页 |
·小结 | 第21-23页 |
第三章 模数转换器 | 第23-37页 |
·模数转换器的工作原理 | 第23页 |
·模数转换器的性能指标 | 第23-30页 |
·静态性能指标 | 第24-27页 |
·频域动态性能指标 | 第27-29页 |
·时域动态性能指标 | 第29-30页 |
·模数转换器的主要类型 | 第30-35页 |
·Flash ADC | 第30-31页 |
·两步式 Flash ADC | 第31页 |
·流水线 ADC | 第31-32页 |
·SAR ADC | 第32-34页 |
·过采样 ADC | 第34-35页 |
·小结 | 第35-37页 |
第四章 比较器的分析 | 第37-49页 |
·比较器的特性 | 第37-39页 |
·静态特性 | 第37-38页 |
·动态特性 | 第38-39页 |
·比较器的结构 | 第39-41页 |
·运放结构的比较器 | 第39-40页 |
·锁存比较器 | 第40-41页 |
·高速高精度的比较器 | 第41-42页 |
·低失调比较器的设计技术 | 第42-44页 |
·设计低功耗比较器 | 第44页 |
·比较器的具体设计 | 第44-48页 |
·小结 | 第48-49页 |
第五章 DAC 的电容问题分析 | 第49-63页 |
·电容阵列的设计与工作原理 | 第49-53页 |
·失配的测量 | 第53-54页 |
·失配的原因 | 第54-56页 |
·随机变化 | 第54-55页 |
·工艺偏差 | 第55-56页 |
·互联寄生 | 第56页 |
·刻蚀速率的变化 | 第56页 |
·器件的匹配规则 | 第56-57页 |
·电容失配仿真 | 第57-60页 |
·整体电路的仿真 | 第60-61页 |
·小结 | 第61-63页 |
第六章 总结和展望 | 第63-65页 |
·总结 | 第63-64页 |
·展望 | 第64-65页 |
致谢 | 第65-67页 |
参考文献 | 第67-69页 |