分立器件测试仪嵌入式软件设计
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-14页 |
| ·课题背景及意义 | 第9页 |
| ·嵌入式技术概况 | 第9-11页 |
| ·嵌入式硬件平台的发展 | 第10页 |
| ·嵌入式软件平台的发展 | 第10-11页 |
| ·嵌入式在测试仪中的应用 | 第11-12页 |
| ·本课题研究的目的 | 第12页 |
| ·主要内容及章节安排 | 第12-14页 |
| 第二章 分立器件测试仪总体介绍 | 第14-25页 |
| ·分立器件测试仪简介 | 第14-15页 |
| ·软件系统需求分析 | 第15-17页 |
| ·上位机软件 | 第15页 |
| ·下位机软件 | 第15-17页 |
| ·硬件需求分析 | 第17-18页 |
| ·微处理器选型 | 第17页 |
| ·存储器选型 | 第17-18页 |
| ·总线定义 | 第18-20页 |
| ·ARM处理器的编程模型 | 第20-22页 |
| ·嵌入式软件开发环境 | 第22-24页 |
| ·小结 | 第24-25页 |
| 第三章 存储器系统及驱动设计 | 第25-42页 |
| ·存储器 | 第25-26页 |
| ·存储器组织 | 第25-26页 |
| ·存储器选择策略 | 第26页 |
| ·存储器系统设计 | 第26-40页 |
| ·SDRAM的使用设计 | 第28-30页 |
| ·Nor Flash的使用设计 | 第30-34页 |
| ·Nand Flash的使用设计 | 第34-40页 |
| ·NAND FLASH检错与校正 | 第40-41页 |
| ·小结 | 第41-42页 |
| 第四章 测试仪引导程序设计 | 第42-57页 |
| ·引导加载程序 | 第42-44页 |
| ·启动过程 | 第42-43页 |
| ·操作模式 | 第43-44页 |
| ·引导程序设计 | 第44-54页 |
| ·需求分析 | 第44-45页 |
| ·功能实现 | 第45-54页 |
| ·引导程序下载调试 | 第54-55页 |
| ·小结 | 第55-57页 |
| 第五章 总线驱动及底层程序设计 | 第57-70页 |
| ·CPU外部总线 | 第57-59页 |
| ·总线驱动程序实现 | 第59-61页 |
| ·底层功能程序设计 | 第61-63页 |
| ·函数封装实现 | 第63-66页 |
| ·确定施加点 | 第64页 |
| ·自动选择量程 | 第64-65页 |
| ·确定延时及滤波参数 | 第65-66页 |
| ·主程序设计 | 第66-69页 |
| ·小结 | 第69-70页 |
| 第六章 测试应用及总结 | 第70-77页 |
| ·工程建立和测试 | 第70-75页 |
| ·工程设置 | 第71-72页 |
| ·图形化程序编写 | 第72-75页 |
| ·软件调试问题 | 第75-76页 |
| ·工作总结与展望 | 第76-77页 |
| 致谢 | 第77-78页 |
| 参考文献 | 第78-80页 |
| 攻读硕期间取得的研究成果 | 第80页 |
