| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-8页 |
| 目录 | 第8-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-32页 |
| ·引言 | 第10-11页 |
| ·纳流控介绍 | 第11-12页 |
| ·双电层理论及电动现象 | 第12-21页 |
| ·双电层理论 | 第12-16页 |
| ·Zeta 电势 | 第16-17页 |
| ·电泳和电渗 | 第17-18页 |
| ·纳米通道内离子浓度和电势分布及电渗 | 第18-21页 |
| ·浓度极化 | 第21-26页 |
| ·通道的离子选择性 | 第21-22页 |
| ·浓度极化理论及应用 | 第22-25页 |
| ·纳流控分子浓缩操作 | 第25-26页 |
| ·纳米孔的离子整流效应 | 第26-29页 |
| ·纳流控浓集装置的微加工技术 | 第29-30页 |
| ·本课题的研究意义和内容 | 第30-32页 |
| 第2章 毛细管微纳流控界面的建立和表征 | 第32-50页 |
| ·引言 | 第32页 |
| ·仪器与试剂 | 第32-34页 |
| ·实验仪器 | 第32-33页 |
| ·实验试剂 | 第33页 |
| ·溶液的配制 | 第33-34页 |
| ·实验操作 | 第34-37页 |
| ·对称的毛细管芯片的制作 | 第34-35页 |
| ·毛细管上微纳界面的建立 | 第35-36页 |
| ·刻蚀膜上I-V曲线的测定 | 第36页 |
| ·CCD检测系统示意图 | 第36-37页 |
| ·不同条件下荧光探针分子在微纳界面上的浓度极化现象研究 | 第37页 |
| ·结果与讨论 | 第37-49页 |
| ·监控电压与膜的状态 | 第37-39页 |
| ·毛细管刻蚀膜上的I-V曲线 | 第39-43页 |
| ·离子强度对带正电荷荧光探针分子浓度极化的影响 | 第43-45页 |
| ·离子强度对带负电荷荧光探针分子浓度极化的影响 | 第45-48页 |
| ·低离子强度下正、负电荷荧光探针分子混合物的浓度极化现象 | 第48-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 第3章 LIF检测法对毛细管微纳界面上电浓缩效率研究 | 第50-64页 |
| ·引言 | 第50页 |
| ·仪器与试剂 | 第50-52页 |
| ·实验仪器 | 第50-51页 |
| ·实验试剂 | 第51页 |
| ·溶液的配制 | 第51-52页 |
| ·实验操作 | 第52-53页 |
| ·激光诱导荧光(LIF)检测系统 | 第52-53页 |
| ·带负电荷荧光探针分子的浓缩 | 第53页 |
| ·实验结果与讨论 | 第53-61页 |
| ·带负电荷荧光探针分子长时间进样浓集 | 第53-59页 |
| ·低浓度荧光探针的浓集 | 第59-61页 |
| ·存在的问题 | 第61页 |
| ·本章小结 | 第61-64页 |
| 第4章 结论与展望 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-74页 |
| 致谢 | 第74-76页 |
| 攻读学位期间发表的论文 | 第76页 |
