| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 1 绪论 | 第10-23页 |
| ·引言 | 第10-11页 |
| ·监测绝缘子劣化和污秽的研究现状 | 第11-17页 |
| ·泄漏电流与绝缘子劣化和污秽的关系 | 第17-20页 |
| ·本文主要研究内容和章节安排 | 第20-23页 |
| 2 尖电极针式理想绝缘子静电场ANSYS解的误差 | 第23-28页 |
| ·引言 | 第23页 |
| ·理想针式绝缘子静电场的解析法 | 第23-25页 |
| ·理想针式绝缘子静电场的ANSYS解及其误差 | 第25-27页 |
| ·本章小结 | 第27-28页 |
| 3 映射法和ANSYS求解二维无界静电场 | 第28-34页 |
| ·引言 | 第28页 |
| ·二维有界场的映射和ANSYS求解 | 第28-31页 |
| ·二维无界场的映射和ANSYS求解 | 第31-33页 |
| ·本章小结 | 第33-34页 |
| 4 从电压和泄漏电流中提取染污绝缘子劣化的敏感特征量 | 第34-54页 |
| ·引言 | 第34页 |
| ·染污绝缘子电压和泄漏电流的时间序列测取及频谱 | 第34-44页 |
| ·染污绝缘子劣化的敏感特征量是基波电阻 | 第44-45页 |
| ·染污绝缘子的基波电流分配及电路模型 | 第45-53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 5 从泄漏电流中提取染污绝缘子劣化和污秽的敏感特征量 | 第54-93页 |
| ·引言 | 第54页 |
| ·染污绝缘子泄漏电流是循环平稳随机信号 | 第54-61页 |
| ·泄漏电流双谱是染污绝缘子劣化的敏感特征量 | 第61-78页 |
| ·泄漏电流高频电流分量波形因子是污秽的敏感特征量 | 第78-91页 |
| ·本章小结 | 第91-93页 |
| 6 基于双谱和分类器诊断绝缘子劣化 | 第93-112页 |
| ·引言 | 第93页 |
| ·基于双谱和谐波比值诊断绝缘子劣化 | 第93-101页 |
| ·分类器的最佳输入向量及原理 | 第101-107页 |
| ·基于分类器和双谱诊断绝缘子劣化的准确率 | 第107-111页 |
| ·本章小结 | 第111-112页 |
| 7 总结与展望 | 第112-117页 |
| ·本文工作总结 | 第112-116页 |
| ·研究展望 | 第116-117页 |
| 致谢 | 第117-118页 |
| 参考文献 | 第118-131页 |
| 附录1 攻读博士学位期间发表的论文 | 第131-132页 |
| 附录2 绝缘子泄漏电流时间序列时域和频域特征量数据 | 第132-173页 |
