基于LabVIEW的叶片厚度和面积测量系统的研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-15页 |
| ·研究的目的与意义 | 第10页 |
| ·叶片厚度和面积测量仪的国内外研究现状 | 第10-12页 |
| ·国内现状 | 第10-11页 |
| ·国外现状 | 第11-12页 |
| ·论文研究的主要内容 | 第12-13页 |
| ·设计本系统的技术路线 | 第13-15页 |
| 第二章 方案选择及基本原理 | 第15-31页 |
| ·系统的整体结构设计框架 | 第15页 |
| ·叶片厚度传感器的基本原理 | 第15-23页 |
| ·剪力的测量原理 | 第16-18页 |
| ·电桥电路测应变 | 第18-19页 |
| ·叶片厚度和电压的关系 | 第19-20页 |
| ·电阻应变片的选择 | 第20-21页 |
| ·静态电阻应变仪、供电电源及兆欧表的选择 | 第21-23页 |
| ·叶片面积测量的基本原理 | 第23-25页 |
| ·光源的选择 | 第23-24页 |
| ·透镜的选择 | 第24页 |
| ·光敏电阻部分 | 第24-25页 |
| ·放大电路的设计 | 第25-27页 |
| ·放大芯片的选择 | 第25-26页 |
| ·放大电路的分析 | 第26-27页 |
| ·数据采集卡的选择 | 第27页 |
| ·虚拟仪器及开发语言部分 | 第27-30页 |
| ·本章小结 | 第30-31页 |
| 第三章 系统的硬件组成及设计 | 第31-37页 |
| ·信号调理电路组成与设计 | 第31-34页 |
| ·第一级放大设计 | 第31-32页 |
| ·第二级放大设计 | 第32-33页 |
| ·整体放大电路设计 | 第33-34页 |
| ·PCI2013 数据采集卡 | 第34-36页 |
| ·PCI 操作函数接口 | 第35页 |
| ·LabVIEW 驱动程序接口 | 第35-36页 |
| ·本章小结 | 第36-37页 |
| 第四章 系统的软件设计 | 第37-45页 |
| ·虚拟仪器软件设计 | 第37-44页 |
| ·LabVIEW 简介 | 第37页 |
| ·程序结构的规划和界面设计原理 | 第37-39页 |
| ·应用采集卡设计程序 | 第39-42页 |
| ·主程序设计 | 第42-44页 |
| ·本章小结 | 第44-45页 |
| 第五章 系统调试与实验 | 第45-51页 |
| ·实验平台搭建 | 第45-46页 |
| ·系统调试 | 第46-47页 |
| ·厚度传感器调试 | 第46-47页 |
| ·软件部分调试 | 第47页 |
| ·实验与结果分析 | 第47-49页 |
| ·本章小结 | 第49-51页 |
| 第六章 结论与展望 | 第51-53页 |
| ·结论 | 第51页 |
| ·创新之处 | 第51页 |
| ·完善与展望 | 第51-53页 |
| 参考文献 | 第53-56页 |
| 致谢 | 第56-57页 |
| 作者简介 | 第57页 |
