| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-16页 |
| 第1章 绪论 | 第16-20页 |
| 参考文献 | 第17-20页 |
| 第2章 CSR强子探测器 | 第20-28页 |
| ·兰州重离子加速器冷却储存环(HIRFL-CSR) | 第20-21页 |
| ·CSRm外靶实验装置 | 第21-26页 |
| ·起始时间探测器 | 第22页 |
| ·靶区γ探测器 | 第22-23页 |
| ·大接收度二极磁铁 | 第23页 |
| ·多丝漂移室 | 第23-24页 |
| ·中子墙 | 第24页 |
| ·飞行时间墙 | 第24-26页 |
| ·CSRm内靶实验装置 | 第26-27页 |
| ·小结 | 第27页 |
| 参考文献 | 第27-28页 |
| 第3章 两类探测器 | 第28-36页 |
| ·多丝漂移室 | 第28-31页 |
| ·多丝漂移室的结构 | 第28-30页 |
| ·多丝漂移室的读出电子学 | 第30-31页 |
| ·塑料闪烁体探测器 | 第31-34页 |
| ·飞行时间法 | 第31-32页 |
| ·中子墙和飞行时间墙 | 第32-34页 |
| ·小结 | 第34-35页 |
| 参考文献 | 第35-36页 |
| 第4章 电荷测量技术 | 第36-44页 |
| ·电荷-电压转换 | 第36-39页 |
| ·电压灵敏放大 | 第36-37页 |
| ·电荷灵敏放大 | 第37-38页 |
| ·电流灵敏放大 | 第38-39页 |
| ·波形取样技术 | 第39-41页 |
| ·电荷-时间转换 | 第41-43页 |
| ·小结 | 第43页 |
| 参考文献 | 第43-44页 |
| 第5章 时间测量技术 | 第44-62页 |
| ·定时方法 | 第44-47页 |
| ·前沿定时 | 第44-45页 |
| ·前沿定时修正 | 第45-47页 |
| ·波形数字化 | 第46页 |
| ·幅度测量 | 第46-47页 |
| ·电荷测量 | 第47页 |
| ·时间-数字变换 | 第47-52页 |
| ·时间-幅度变换 | 第47-48页 |
| ·Wilkingsom型TDC | 第48-49页 |
| ·游标卡尺型TDC(Vernier TDC) | 第49-50页 |
| ·计数器TDC | 第50-52页 |
| ·一种高性能的数据驱动型TDC——HPTDC | 第52-60页 |
| ·HPTDC的时间测量原理 | 第52-54页 |
| ·数据写入L1缓冲 | 第54-55页 |
| ·触发匹配 | 第55-56页 |
| ·HPTDC的数据读出 | 第56-57页 |
| ·HPTDC的其他特性 | 第57-58页 |
| ·信号输入的结构 | 第57-58页 |
| ·抗辐射特性和强大的错误检测功能 | 第58页 |
| ·TDC性能的测试方法 | 第58-60页 |
| ·码密度 | 第58-59页 |
| ·线延迟 | 第59-60页 |
| ·小结 | 第60页 |
| 参考文献 | 第60-62页 |
| 第6章 TOT技术 | 第62-76页 |
| ·TOT技术 | 第62-69页 |
| ·基于TOT技术的芯片 | 第69-74页 |
| ·SFE16 | 第69-72页 |
| ·NINO | 第72-74页 |
| ·小结 | 第74页 |
| 参考文献 | 第74-76页 |
| 第7章 两类探测器读出电子学系统设计 | 第76-92页 |
| ·多丝漂移室读出电子学系统设计 | 第77-83页 |
| ·整体结构 | 第77-78页 |
| ·前端处理模块 | 第78页 |
| ·时间测量模块 | 第78-83页 |
| ·时间测量模块的子板 | 第79-81页 |
| ·时间测量模块的母板 | 第81-82页 |
| ·子母板之间的数据传输 | 第82-83页 |
| ·塑料闪烁体探测器读出电子学系统设计 | 第83-90页 |
| ·整体结构 | 第83-84页 |
| ·信号的接入和缓冲 | 第84页 |
| ·时间测量 | 第84-86页 |
| ·定时甄别 | 第84-85页 |
| ·时间-数字转换 | 第85-86页 |
| ·电荷测量 | 第86-87页 |
| ·HPTDC的互连和读出 | 第87-88页 |
| ·读出与控制逻辑 | 第88-89页 |
| ·PXI接口 | 第89-90页 |
| 参考文献 | 第90-92页 |
| 第8章 两类探测器读出电子学系统测试 | 第92-112页 |
| ·多丝漂移室读出电子学系统测试 | 第93-100页 |
| ·64通道时间测量模块的电子学测试 | 第93-98页 |
| ·非线性测试 | 第94-95页 |
| ·时间精度测试 | 第95-96页 |
| ·串扰测试 | 第96-98页 |
| ·前端处理模块测试 | 第98-100页 |
| ·塑料闪烁体探测器读出电子学系统测试 | 第100-110页 |
| ·电子学测试 | 第100-107页 |
| ·时间测量性能测试 | 第100-103页 |
| ·电荷测量性能测试 | 第103-106页 |
| ·其他测试 | 第106-107页 |
| ·与中子墙单元条宇宙线测试 | 第107-110页 |
| ·小结 | 第110页 |
| 参考文献 | 第110-112页 |
| 第9章 总结与展望 | 第112-114页 |
| ·总结 | 第112-113页 |
| ·展望 | 第113页 |
| 参考文献 | 第113-114页 |
| 附录1 HPTDC的数据格式(来自HPTDC手册) | 第114-116页 |
| 附录2 8通道时间电荷测量模块 | 第116-117页 |
| 附录3 64通道时间测量模块 | 第117-119页 |
| 附录4 PXI 3U延长板 | 第119-120页 |
| 附录5 TTL转LVDS板 | 第120-121页 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的研究成果 | 第121-122页 |
| 致谢 | 第122页 |