基于散射调制技术的近场测量方法研究
| 摘 要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-12页 |
| ·论文选题背景 | 第8-10页 |
| ·文章内容安排 | 第10-12页 |
| 第二章 天线测量理论及方法基础 | 第12-16页 |
| ·天线测量方法分类 | 第12-13页 |
| ·天线的近场测量技术 | 第13-16页 |
| 第三章 散射调制理论原理 | 第16-32页 |
| ·电磁场的散射 | 第16-19页 |
| ·天线测量环境 | 第19页 |
| ·散射调制技术的原理及方法 | 第19-22页 |
| ·机械调制方法 | 第20-21页 |
| ·电子调制方法 | 第21-22页 |
| ·散射调制技术的数学模型 | 第22-32页 |
| ·线性系统分析 | 第23-24页 |
| ·阻抗矩阵和导纳矩阵 | 第24-25页 |
| ·散射矩阵 | 第25-26页 |
| ·矩阵之间的关系 | 第26-27页 |
| ·单站接收模式的散射矩阵 | 第27-29页 |
| ·双站接收模式的散射矩阵 | 第29-32页 |
| 第四章 散射探头单元 | 第32-44页 |
| ·探头在两种接收模式下的散射 | 第32-37页 |
| ·单站接收模式反射系数 | 第33-36页 |
| ·双站接收模式的传输系数 | 第36-37页 |
| ·探头散射的计算 | 第37-41页 |
| ·天线近场测量中的散射探头 | 第41-44页 |
| 第五章 探头阵列与信号接收 | 第44-50页 |
| ·探头阵列简介 | 第44-46页 |
| ·双站接收散射体阵列和接收天线 | 第46-48页 |
| ·测试信号的相干接收 | 第48-50页 |
| 第六章 系统误差分析 | 第50-68页 |
| ·传统近场测量方法误差源 | 第50-52页 |
| ·测试误差理论分析 | 第52-55页 |
| ·截断误差 | 第52-54页 |
| ·测试仪器误差 | 第54-55页 |
| ·多次反射 | 第55页 |
| ·分析模型的建立 | 第55-59页 |
| ·近场系统误差分析 | 第59-68页 |
| ·扫描面截断误差 | 第59-60页 |
| ·仪器非线性误差 | 第60-62页 |
| ·系统相位误差 | 第62-63页 |
| ·环境误差 | 第63-64页 |
| ·探头互耦误差 | 第64-68页 |
| 结束语 | 第68-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-72页 |
