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SRAM型FPGA的测试技术研究

第一章 绪论第1-16页
   ·现场可编程门阵列(FPGA)概述第8-9页
   ·目前FPGA 的发展趋势及国内研究发展现状第9-12页
   ·本课题的研究目的和主要研究内容第12-16页
第二章 XC4000E 系列FPGA 结构及特性概述第16-30页
   ·可编程逻辑功能块(CLB)第16-22页
   ·输入/输出功能块(IOB)第22-23页
   ·可编程互连资源(INTERCONNECT RESOURCES)第23-26页
   ·XC4000E 系列FPGA 的配置过程第26-30页
第三章 可编程逻辑模块的测试第30-61页
   ·FPGA 中典型的故障模型第30-31页
   ·可编程逻辑模块(CLB)的测试第31-42页
   ·进位逻辑模块(CLM)测试第42-49页
   ·函数发生器RAM 模式的测试第49-61页
第四章 互连资源的测试第61-76页
   ·FPGA 互连资源的故障模型第61-67页
   ·FPGA 的可配置接口模块(CIM)测试研究第67-73页
   ·输入输出功能块(IOB)的测试第73-76页
第五章 软硬件协同仿真测试平台第76-86页
   ·测试条件要求分析第76-77页
   ·搭建软硬件在线协同测试平台第77-78页
   ·测试准备过程第78-83页
   ·在线配置和测试 FPGA第83-86页
第六章 总 结第86-88页
致 谢第88-89页
参 考 文 献第89-92页
作者攻硕期间取得的成果第92页

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