| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-22页 |
| ·课题背景 | 第10-13页 |
| ·FeS_2薄膜的电学性能 | 第13-15页 |
| ·FeS_2薄膜的晶体结构及电子结构 | 第13-15页 |
| ·FeS_2薄膜中电阻率与载流子浓度及迁移率的关系 | 第15页 |
| ·FeS_2薄膜电学性能的影响因素 | 第15-16页 |
| ·掺杂对FeS_2薄膜电学性能的影响 | 第16-18页 |
| ·FeS_2薄膜的电传导机制 | 第18-21页 |
| ·晶界势垒模型 | 第18-19页 |
| ·跳跃传导模型 | 第19-20页 |
| ·晶体点缺陷模型 | 第20-21页 |
| ·本章小结 | 第21-22页 |
| 第2章 试验方法 | 第22-26页 |
| ·FeS_2薄膜的制备 | 第22-23页 |
| ·实验方案 | 第23页 |
| ·FeS_2薄膜的性能测试 | 第23-26页 |
| 第3章 面缺陷对FeS_2薄膜电学性能的影响 | 第26-34页 |
| ·FeS_2薄膜面缺陷密度的计算模型 | 第26-27页 |
| ·晶体结构 | 第27-28页 |
| ·比表面积对FeS_2薄膜电学性能的影响 | 第28-30页 |
| ·比界面积对FeS_2薄膜电学性能的影响 | 第30-32页 |
| ·本章小节 | 第32-34页 |
| 第4章 S／Fe比及其它影响FeS_2薄膜电学性能的因素 | 第34-46页 |
| ·S／Fe比对载流子浓度及电阻率的影响 | 第35-37页 |
| ·硫化温度对FeS_2薄膜电学性能的影响 | 第37-38页 |
| ·硫化时间对FeS_2薄膜电学性能的影响 | 第38-43页 |
| ·硫化压力对FeS_2薄膜电学性能的影响 | 第43-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第5章 FeS_2薄膜中的载流子浓度模型 | 第46-48页 |
| 第6章 结论 | 第48-50页 |
| 参考文献 | 第50-58页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第58-59页 |
| 致谢 | 第59页 |