| 摘要 | 第1-3页 |
| Abstract | 第3-8页 |
| 第1章 引言 | 第8-21页 |
| ·电子能量损失谱的发展史 | 第8-9页 |
| ·内壳层电子能量损失谱的应用 | 第9-14页 |
| ·定量标定化学成份 | 第10-11页 |
| ·作为元素化学环境的指纹 | 第11-13页 |
| ·与理论模拟结合,探测激发态精细结构 | 第13-14页 |
| ·各向异性材料电子能量损失谱的取向效应 | 第14-20页 |
| ·对于取向效应的研究 | 第14-16页 |
| ·利用取向效应研究各向异性电子结构 | 第16-17页 |
| ·电子能量损失谱的幻角条件 | 第17-18页 |
| ·各向异性材料电子能量损失谱的研究方向 | 第18-20页 |
| ·本论文各部分的主要内容 | 第20-21页 |
| 第2章 各向异性材料中的非弹性电子散射 | 第21-33页 |
| ·引言 | 第21页 |
| ·电子能量损失谱方向效应的定性解释 | 第21-23页 |
| ·非弹性电子散射模型 | 第23-25页 |
| ·介电函数理论架构下的二次微分散射截面分析 | 第23-24页 |
| ·量子力学架构下的二次微分散射截面分析 | 第24页 |
| ·角度积分的散射截面特征 | 第24-25页 |
| ·幻角条件 | 第25-29页 |
| ·平行光入射条件下的幻角条件 | 第25-26页 |
| ·会聚束对幻角条件的影响 | 第26-27页 |
| ·幻角谱的物理意义 | 第27-28页 |
| ·取向幻角 | 第28-29页 |
| ·相对论效应对方向效应和幻角条件的影响 | 第29-32页 |
| ·电子能量损失谱的相对论效应 | 第29-30页 |
| ·相对论效应修正后的幻角条件 | 第30-31页 |
| ·量子干涉项的存在及其讨论 | 第31-32页 |
| ·小结 | 第32-33页 |
| 第3章 电子能量损失谱的幻角条件的实验确定 | 第33-44页 |
| ·引言 | 第33页 |
| ·实验参数的定义及精确测量 | 第33-36页 |
| ·接收角 | 第33-35页 |
| ·会聚角 | 第35页 |
| ·谱各向异性因子 | 第35-36页 |
| ·样品取向 | 第36页 |
| ·实验方法和结果 | 第36-40页 |
| ·幻角条件和方向效应的实验确定 | 第37-39页 |
| ·不同元素吸收边锋的对比 | 第39页 |
| ·不同高压下碳吸收边峰的幻角条件 | 第39-40页 |
| ·实验测量非弹性电子的角度分布 | 第40-43页 |
| ·利用能量过滤像测量角度分布 | 第41-42页 |
| ·实验结论及与理论角分布的对比 | 第42-43页 |
| ·小结 | 第43-44页 |
| 第4章 利用幻角谱和二向色性谱表征各向异性电子结构 | 第44-52页 |
| ·引言 | 第44-45页 |
| ·各向异性电子结构的表征 | 第44页 |
| ·二向色性的定义和分类 | 第44-45页 |
| ·理论分析和实验 | 第45-51页 |
| ·幻角谱加二向色性谱的表达方式 | 第45-46页 |
| ·实验确定——多元统计方法 | 第46-47页 |
| ·主变量分析理论模拟谱线的结果 | 第47-50页 |
| ·主变量分析在实验谱线中的应用分析 | 第50-51页 |
| ·小结 | 第51-52页 |
| 第5章 利用能量损失谱表征金属掺杂非晶碳薄膜微观结构 | 第52-58页 |
| ·引言 | 第52页 |
| ·实验过程 | 第52-53页 |
| ·实验结果 | 第53-56页 |
| ·碳原子构型择优取向的判断 | 第53-55页 |
| ·对微观结构与性能之间的联系的讨论 | 第55-56页 |
| ·小结 | 第56-58页 |
| 第6章 利用电子能量损失谱确定样品三维取向 | 第58-66页 |
| ·引言 | 第58页 |
| ·实验原理与方案设计 | 第58-62页 |
| ·电子能量损失谱仪的光路评价 | 第58-59页 |
| ·角度分布与一维线形分布的联系——分析 | 第59-60页 |
| ·角度分布与一维线形分布的联系——验证 | 第60-62页 |
| ·确定单轴各向异性材料c 轴三维取向 | 第62页 |
| ·实验结果与讨论 | 第62-65页 |
| ·小结 | 第65-66页 |
| 第7章 结论 | 第66-68页 |
| 附录A 取向依赖关系和幻角条件的推导 | 第68-70页 |
| 附录B 会聚束对幻角条件的影响 | 第70-72页 |
| 附录C 推导考虑相对论效应的幻角条件 | 第72-75页 |
| 附录D 单轴各向异性系统中非弹性散射电子角度分布 | 第75-77页 |
| 附录E 谱仪CCD 记录二维损失谱图像的强度分析 | 第77-78页 |
| 参考文献 | 第78-85页 |
| 致谢 | 第85-86页 |
| 个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第86页 |