110kV污秽绝缘子串的操作冲击放电特性研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-10页 |
| 1 绪论 | 第10-20页 |
| ·论文研究的目的和意义 | 第10-12页 |
| ·国内外研究现状 | 第12-19页 |
| ·大气参数对电气外绝缘放电的影响 | 第12-13页 |
| ·气压对绝缘子放电的影响 | 第13-15页 |
| ·污秽对绝缘子操作冲击放电特性的影响 | 第15-16页 |
| ·温度对绝缘子操作冲击放电特性的影响 | 第16-17页 |
| ·极性对绝缘子操作冲击放电特性的影响 | 第17-18页 |
| ·污秽绝缘子串的闪络机理研究 | 第18-19页 |
| ·本文研究的主要内容 | 第19页 |
| ·小结 | 第19-20页 |
| 2 试验装置、试品与试验方法 | 第20-27页 |
| ·引言 | 第20页 |
| ·试品 | 第20-21页 |
| ·试验原理与试验设备 | 第21-23页 |
| ·试验原理 | 第21页 |
| ·人工气候室 | 第21-22页 |
| ·试验电源 | 第22页 |
| ·测量设备 | 第22-23页 |
| ·试验程序及试验方法 | 第23-26页 |
| ·试品清洗及预处理 | 第24页 |
| ·试品染污 | 第24页 |
| ·试品布置及湿润 | 第24-25页 |
| ·海拔的模拟 | 第25-26页 |
| ·加压方式及操作冲击闪络电压的确定 | 第26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 3 常压下绝缘子的操作冲击污闪特性 | 第27-39页 |
| ·引言 | 第27页 |
| ·绝缘子串的操作冲击干闪特性 | 第27-28页 |
| ·污秽对操作冲击闪络电压的影响 | 第28-31页 |
| ·操作冲击闪络电压与泄漏距离的关系 | 第31-33页 |
| ·操作冲击闪络电压与结构高度的关系 | 第33-35页 |
| ·极性效应 | 第35-37页 |
| ·本章小结 | 第37-39页 |
| 4 低气压下瓷绝缘子的操作冲击污闪特性 | 第39-62页 |
| ·引言 | 第39页 |
| ·清洁绝缘子串的干闪和雾闪特性 | 第39-43页 |
| ·正极性下干闪和雾闪特性 | 第39-41页 |
| ·负极性下干闪和雾闪特性 | 第41-43页 |
| ·气压对染污绝缘子串操作冲击闪络电压的影响 | 第43-48页 |
| ·正极性下气压对操作冲击闪络电压的影响 | 第43-45页 |
| ·负极性下气压对操作冲击闪络电压的影响 | 第45-48页 |
| ·污秽对绝缘子串操作冲击闪络电压的影响 | 第48-50页 |
| ·正极性下污秽对操作冲击闪络电压的影响 | 第48-49页 |
| ·负极性下污秽对操作冲击闪络电压的影响 | 第49-50页 |
| ·温度对染污绝缘子串操作冲击闪络电压的影响 | 第50-53页 |
| ·染污绝缘子串操作冲击闪络电压的极性效应 | 第53页 |
| ·染污绝缘子串操作冲击闪络电压的校正 | 第53-60页 |
| ·基于盐密和气压的操作冲击闪络电压校正 | 第53-57页 |
| ·基于盐密、气压和温度的操作冲击闪络电压联合校正 | 第57-60页 |
| ·本章小结 | 第60-62页 |
| 5 结论与展望 | 第62-64页 |
| ·主要结论 | 第62-63页 |
| ·后续研究工作的展望 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-69页 |
| 附录 | 第69-71页 |
