摘要 | 第1-8页 |
Abstract | 第8-10页 |
目录 | 第10-13页 |
第一章 绪论 | 第13-31页 |
·课题研究的背景 | 第13-16页 |
·我国核电的发展状况 | 第13-14页 |
·核电站蒸汽发生器使用材料及面临的问题 | 第14-16页 |
·晶界的基本概念 | 第16-21页 |
·晶界的分类 | 第16-17页 |
·晶界的自由度 | 第17页 |
·重位点阵晶界 | 第17-21页 |
·基于退火孪晶的晶界工程研究概况 | 第21-30页 |
·本研究领域的研究团队及所关注的问题 | 第21-23页 |
·提高低∑CSL晶界比例的加工工艺 | 第23-24页 |
·提高低∑CSL晶界比例的机理及几种模型 | 第24-29页 |
·层错、退火孪晶及多重孪晶 | 第24-25页 |
·"∑3再激发模型" | 第25-26页 |
·高∑值CSL晶界分解模型 | 第26-27页 |
·非共格∑3形核模型 | 第27-29页 |
·基于退火孪晶晶界工程的应用案例 | 第29-30页 |
·本论文研究工作的目的与主要研究内容 | 第30-31页 |
第二章 实验方法及原理 | 第31-43页 |
·样品制备 | 第31-34页 |
·实验材料 | 第31页 |
·样品的变形方式 | 第31页 |
·样品的热处理方式 | 第31-32页 |
·电解抛光 | 第32-34页 |
·电解抛光的优点 | 第32页 |
·电解抛光的基本原理 | 第32-33页 |
·690合金的电解抛条件 | 第33-34页 |
·样品表面的形貌观察 | 第34-35页 |
·光学显微镜 | 第34-35页 |
·扫描电子显微镜 | 第35页 |
·电子背散射衍射技术 | 第35-42页 |
·电子背散射衍射技术的概述 | 第35-36页 |
·EBSD的基本结构 | 第36-37页 |
·菊池花样的形成及收集 | 第37-38页 |
·对衍射花样的解释 | 第38-39页 |
·自动标定及取向测定 | 第39-41页 |
·EBSD实验过程中应注意的事项 | 第41-42页 |
·腐蚀实验 | 第42-43页 |
第三章 控制690合金低∑CSL晶界比例的加工工艺研究 | 第43-83页 |
·前言 | 第43页 |
·固溶处理 | 第43-50页 |
·固溶处理条件 | 第43-48页 |
·样品固溶处理后的显微组织 | 第48-50页 |
·实验设计 | 第50-52页 |
·冷轧压下量对690合金样品中晶界特征分布的影响 | 第52-68页 |
·冷轧及1100℃退火后690合金样品的光学显微镜观察 | 第52页 |
·冷轧及1100℃退火后690合金的晶界特征分布 | 第52-56页 |
·具有不同晶界特征分布样品的显微组织分析 | 第56-66页 |
·织构与晶界特征分布的关系 | 第66-68页 |
·1100℃退火时间对晶界特征分布的影响 | 第68-72页 |
·样品在冷轧退火前进行固溶处理或固溶后再时效处理对晶界特征分布的影响 | 第72-77页 |
·多次重复冷轧退火加工工艺对晶界特征分布的影响 | 第77-78页 |
·不同低∑CSL晶界与∑3晶界之间的比例关系 | 第78-80页 |
·本章主要结论 | 第80-83页 |
第四章 控制690合金晶界特征分布的机理研究 | 第83-115页 |
·前言 | 第83页 |
·实验设计 | 第83-85页 |
·样品冷轧后在退火过程中显微形貌的光学显微镜观察 | 第85-96页 |
·固溶处理的样品经冷轧5%后在1100℃退火过程中显微组织的光学显微镜观察 | 第85-89页 |
·固溶处理的样品经冷轧20%后在1100℃退火过程中显微组织的光学显微镜观察 | 第89-91页 |
·固溶处理的样品经冷轧50%后在1100℃退火过程中显微组织的光学显微镜观察 | 第91页 |
·固溶并时效处理的样品经冷轧5%后在1100℃退火过程中显微组织的光学显微镜观察 | 第91-94页 |
·固溶并时效处理的样品经冷轧20%后在1100℃退火过程中显微组织的光学显微镜观察 | 第94-96页 |
·固溶并时效处理的样品经冷轧50%在1100℃退火过程中显微组织的光学显微镜观察 | 第96页 |
·对部分再结晶样品的EBSD观察 | 第96-109页 |
·部分再结晶状态样品的EBSD表征方法 | 第98-103页 |
·对只发生了部分再结晶样品的EBSD观察 | 第103-109页 |
·讨论 | 第109-113页 |
·形成"互有∑3"取向差关系晶料的团簇"显微组织的原因 | 第109-110页 |
·冷轧变形量在调整晶界特征分布中起关键作用的原因 | 第110-111页 |
·初始经固溶处理或固溶后再时效处理对形变及退火后晶界特征分布影响不大的原因 | 第111-112页 |
·多次重复形变退火工艺与只进行一次形变退火的效果相似的原因 | 第112-113页 |
·对其它几种机理的评价 | 第113页 |
·本章主要结论 | 第113-115页 |
第五章 690合金中晶界特征分布对晶间腐蚀性能的影响 | 第115-128页 |
·前言 | 第115页 |
·随机晶界网络的连通性 | 第115-120页 |
·低∑CSL晶界如何影响晶间腐蚀性能 | 第120-127页 |
·本章主要结论 | 第127-128页 |
第六章 全文总结 | 第128-130页 |
·全文主要结论 | 第128-129页 |
·本工作主要创新点 | 第129-130页 |
参考文献 | 第130-144页 |
作者在攻读博士学位期间公开发表的论文 | 第144-145页 |
作者在攻读博士学位期间申请的相关专利 | 第145页 |
作者在攻读博士学位期间所参加的项目 | 第145-146页 |
致谢 | 第146页 |