基于网络分析器AD5933的细胞膜电容测量方法研究
摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-9页 |
1 绪论 | 第9-13页 |
·引言 | 第9页 |
·膜电容测量技术发展状况 | 第9-11页 |
·国内外研究状况 | 第11页 |
·课题意义 | 第11-12页 |
·本文的主要内容 | 第12-13页 |
2 AD5933 功能验证 | 第13-23页 |
·前言 | 第13页 |
·AD5933 复阻抗测量的原理 | 第13-18页 |
·AD5933 用于膜电容测量的论证 | 第18-20页 |
·AD5933 复阻抗测量实验 | 第20-22页 |
·小结 | 第22-23页 |
3 复阻抗低频段的测量 | 第23-40页 |
·低频段的测量误差 | 第23-28页 |
·低频段测量误差的原因 | 第28-30页 |
·DFT 泄漏的纠正 | 第30-35页 |
·汉宁窗的纠正 | 第35-40页 |
4 AD5933 测量阻抗的时间分辨率 | 第40-46页 |
·前言 | 第40页 |
·时间组成 | 第40-42页 |
·AD5933 测量阻抗时间分辨率分析 | 第42-46页 |
5 细胞模型电路的测量及其实验结果 | 第46-53页 |
·调理电路的设计 | 第46-49页 |
·R_(FB)和R_(V-I)的确定 | 第49-51页 |
·细胞模型相似电路测量实验 | 第51-53页 |
6 总结与展望 | 第53-54页 |
致谢 | 第54-55页 |
参考文献 | 第55-57页 |