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基于网络分析器AD5933的细胞膜电容测量方法研究

摘要第1-5页
Abstract第5-9页
1 绪论第9-13页
   ·引言第9页
   ·膜电容测量技术发展状况第9-11页
   ·国内外研究状况第11页
   ·课题意义第11-12页
   ·本文的主要内容第12-13页
2 AD5933 功能验证第13-23页
   ·前言第13页
   ·AD5933 复阻抗测量的原理第13-18页
   ·AD5933 用于膜电容测量的论证第18-20页
   ·AD5933 复阻抗测量实验第20-22页
   ·小结第22-23页
3 复阻抗低频段的测量第23-40页
   ·低频段的测量误差第23-28页
   ·低频段测量误差的原因第28-30页
   ·DFT 泄漏的纠正第30-35页
   ·汉宁窗的纠正第35-40页
4 AD5933 测量阻抗的时间分辨率第40-46页
   ·前言第40页
   ·时间组成第40-42页
   ·AD5933 测量阻抗时间分辨率分析第42-46页
5 细胞模型电路的测量及其实验结果第46-53页
   ·调理电路的设计第46-49页
   ·R_(FB)和R_(V-I)的确定第49-51页
   ·细胞模型相似电路测量实验第51-53页
6 总结与展望第53-54页
致谢第54-55页
参考文献第55-57页

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