基于反熔丝技术的FPGA设计研究
摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-7页 |
第一章 绪论 | 第7-11页 |
·课题的研究背景和意义 | 第7页 |
·FPGA 的特点与发展趋势 | 第7-10页 |
·FPGA 的特点 | 第7-9页 |
·FPGA 的发展历史与现状 | 第9-10页 |
·本文的主要内容与结构安排 | 第10-11页 |
第二章 FPGA器件的编程原理及设计流程 | 第11-19页 |
·FPGA 的分类 | 第11-16页 |
·熔丝和反熔丝型FPGA | 第11-13页 |
·SRAM 型FPGA | 第13-15页 |
·EPROM/EEPROM型FPGA | 第15-16页 |
·FPGA 的设计流程 | 第16-18页 |
·本章小结 | 第18-19页 |
第三章 FPGA的体系与电路设计 | 第19-29页 |
·FPGA 的体系结构 | 第19-20页 |
·电路的整体架构与设计 | 第20-27页 |
·可编程逻辑块PLM | 第20-23页 |
·I/O 模块 | 第23页 |
·可编程布线资源 | 第23-25页 |
·寻址编程电路 | 第25-26页 |
·整体版图 | 第26-27页 |
·本章小结 | 第27-29页 |
第四章 反熔丝的结构与编程方式 | 第29-43页 |
·反熔丝的分类 | 第29-32页 |
·ONO 反熔丝结构 | 第29-31页 |
·MTM 反熔丝结构 | 第31-32页 |
·反熔丝FPGA 的布线结构 | 第32-33页 |
·反熔丝单元的寻址与编程 | 第33-39页 |
·传统的寻址编程方式 | 第34-35页 |
·新的寻址编程方式 | 第35-39页 |
·寻址编程方式对面积、速度和功耗等方面的影响 | 第39-40页 |
·反熔丝FPGA 的编程流程 | 第40-41页 |
·本章小结 | 第41-43页 |
第五章 反熔丝FPGA 的测试 | 第43-55页 |
·FPGA 的测试内容和测试方法 | 第43-44页 |
·反熔丝FPGA 的测试内容 | 第43页 |
·反熔丝FPGA 的测试方法 | 第43-44页 |
·电路的主要特性与封装形式 | 第44-46页 |
·电路的主要仿真与测试结果 | 第46-54页 |
·逻辑模块功能验证 | 第46-48页 |
·I/O 输入缓冲器功能验证 | 第48页 |
·反熔丝编程能力测试 | 第48-50页 |
·反熔丝寻址与编程方式的验证 | 第50-54页 |
·本章小结 | 第54-55页 |
第六章 结论 | 第55-56页 |
致谢 | 第56-57页 |
参考文献 | 第57-61页 |
附录:作者在攻读硕士学位期间发表的论文 | 第61页 |