| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-16页 |
| ·研究背景 | 第12-13页 |
| ·二次离子质谱学以及二次离子质谱仪概述 | 第12页 |
| ·二次离子质谱仪的基本原理 | 第12-13页 |
| ·研究现状 | 第13-14页 |
| ·国外二次离子质谱仪及其高压装置的研制现状及发展 | 第13-14页 |
| ·国内二次离子质谱仪及其高压装置的研制现状及发展 | 第14页 |
| ·研究意义 | 第14-15页 |
| ·选题的来源 | 第14页 |
| ·选题研究的意义 | 第14-15页 |
| ·研究内容 | 第15页 |
| ·小结 | 第15-16页 |
| 第二章 二次离子质谱仪高压控制系统简介 | 第16-19页 |
| ·二次离子质谱仪的基本构造 | 第16-17页 |
| ·二次离子质谱仪中各部分所需高压简介 | 第17-19页 |
| 第三章 高压控制系统硬件设计 | 第19-33页 |
| ·系统硬件电路整体设计思想 | 第19-20页 |
| ·嵌入式中央控制主板的硬件设计 | 第20-28页 |
| ·ARM 概述及 AT91RM9200 概述 | 第20页 |
| ·AT91RM9200 基本外围电路设计 | 第20-21页 |
| ·电源电路设计 | 第21-22页 |
| ·Flash 存储器电路设计 | 第22-23页 |
| ·SDRAM 存储器电路设计 | 第23页 |
| ·PC/104 接口电路设计 | 第23-25页 |
| ·网络接口电路设计 | 第25-26页 |
| ·USB 接口电路设计 | 第26页 |
| ·UART 接口电路设计 | 第26-27页 |
| ·RTC 模块电路设计 | 第27-28页 |
| ·D/A 转换电路的硬件设计 | 第28-30页 |
| ·D/A 转换电路设计 | 第28-29页 |
| ·AD5725 与 ARM 主板 PC104 接口设计 | 第29-30页 |
| ·高压控制电路的硬件设计 | 第30-32页 |
| ·二次离子质谱仪器高压需求简介 | 第30页 |
| ·高压电源模块简介 | 第30-31页 |
| ·高压控制电路设计 | 第31-32页 |
| ·小结 | 第32-33页 |
| 第四章 高压控制系统软件设计 | 第33-52页 |
| ·嵌入式 LINUX 操作系统的概述和移植 | 第33-43页 |
| ·嵌入式 LINUX 概述 | 第33页 |
| ·Linux 内核的组成 | 第33-35页 |
| ·系统引导程序 U-BOOT 的烧写 | 第35-38页 |
| ·嵌入式 Linux 操作系统内核的烧写 | 第38-40页 |
| ·嵌入式 Linux 内核的配置与编译 | 第40-43页 |
| ·D/A 设备驱动程序设计 | 第43-50页 |
| ·Linux 下的设备驱动程序定义 | 第43页 |
| ·Linux 下设备驱动程序的分类 | 第43页 |
| ·Linux 设备驱动程序的层次结构 | 第43-44页 |
| ·设备驱动程序与外界的接口 | 第44-45页 |
| ·字符设备驱动编写流程 | 第45-46页 |
| ·AD5725 驱动程序的实现 | 第46-49页 |
| ·AD5725 驱动程序的测试 | 第49-50页 |
| ·D/A 设备应用程序设计 | 第50-51页 |
| ·小结 | 第51-52页 |
| 第五章 系统功能测试 | 第52-70页 |
| ·核心板硬件功能测试 | 第52-56页 |
| ·网络接口测试 | 第52-53页 |
| ·系统时钟测试 | 第53页 |
| ·USB 口测试 | 第53-54页 |
| ·串口测试 | 第54-56页 |
| ·D/A 芯片的参数测试 | 第56-61页 |
| ·静态指标测试 | 第57-60页 |
| ·动态指标测试 | 第60-61页 |
| ·高压输出参数测试 | 第61-67页 |
| ·系统所用电源模块参数简介 | 第62页 |
| ·±250V 高压参数测试 | 第62-64页 |
| ·300V，2.5KV 高压参数测试 | 第64-65页 |
| ·±10KV 高压参数测试 | 第65-67页 |
| ·高压控制系统向 SHRIMP 上的移植的可行性测试 | 第67-69页 |
| ·小结 | 第69-70页 |
| 第六章 总结 | 第70-71页 |
| ·主要工作总结 | 第70页 |
| ·存在的不足及进一步的工作 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-73页 |
| 作者简介 | 第73-74页 |
| 致谢 | 第74页 |