摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-10页 |
1 绪论 | 第10-21页 |
·选题背景及研究意义 | 第10-15页 |
·研究的体系与方法 | 第15-17页 |
·研究的内容与创新点 | 第17-21页 |
2 文献综述及概念框架 | 第21-42页 |
·集成创新研究回顾 | 第21-26页 |
·专利标准化研究回顾 | 第26-33页 |
·现有研究综合评述 | 第33-35页 |
·相关概念框架 | 第35-42页 |
3 我国标准化与专利的关系:基于ICS分类的实证分析 | 第42-55页 |
·相关研究回顾 | 第42-44页 |
·理论假设 | 第44-46页 |
·数据及模型 | 第46-48页 |
·检验结果及分析 | 第48-54页 |
·本章小结 | 第54-55页 |
4 武汉光电子信息产业专利标准化机制的多案例研究 | 第55-96页 |
·问题的提出 | 第55-56页 |
·理论框架 | 第56-66页 |
·案例研究设计 | 第66-71页 |
·跨案例分析 | 第71-92页 |
·结论性评述 | 第92-94页 |
·本章小结 | 第94-96页 |
5 专利标准化与国家集成创新:以TD-SCDMA技术演进及商业化为例 | 第96-112页 |
·问题的提出 | 第96-98页 |
·专利标准化与国家集成创新 | 第98-101页 |
·TD-SCDMA标准化及其推广中的国家集成创新活动 | 第101-103页 |
·博弈模型构建与分析 | 第103-109页 |
·结论及启示 | 第109-110页 |
·本章小结 | 第110-112页 |
6 国家集成创新能力评价指标体系:基于专利标准化视角 | 第112-128页 |
·问题的提出 | 第112-113页 |
·理论框架 | 第113-115页 |
·评价指标体系的构建原则 | 第115-117页 |
·评价指标体系的设置 | 第117-126页 |
·本章小结 | 第126-128页 |
7 总结及后续研究 | 第128-133页 |
·全文总结 | 第128-131页 |
·后续研究 | 第131-133页 |
致谢 | 第133-134页 |
参考文献 | 第134-150页 |
附录1 攻读博士学位期间发表论文目录 | 第150-151页 |
附录2 攻读博士学位期间参加的科研课题 | 第151-152页 |
附录3 标准的国际分类(ICS)和国际专利分类(IPC)之间的对应关系 | 第152-155页 |