多参数可调高速自旋噪声谱仪开发及n型GaAs自旋噪声谱测量
| 中文摘要 | 第7-9页 |
| ABSTRACT | 第9-11页 |
| 第一章 绪论 | 第12-31页 |
| 1.1 摩尔定律及未来的挑战 | 第12-15页 |
| 1.2 迎接挑战 | 第15-16页 |
| 1.3 自旋电子学简介及发展趋势 | 第16页 |
| 1.4 自旋注入,自旋输运自旋探测 | 第16-19页 |
| 1.5 自旋噪声谱 | 第19-26页 |
| 1.5.1 自旋噪声谱实验回顾 | 第19-20页 |
| 1.5.2 光强度噪声谱 | 第20-21页 |
| 1.5.3 自旋噪声携带的额外磁信息 | 第21-22页 |
| 1.5.4 自旋噪声谱的含义 | 第22页 |
| 1.5.5 自旋噪声谱小信号探测方法 | 第22-24页 |
| 1.5.6 自旋噪声谱主要公式 | 第24-26页 |
| 1.6 FFT原理介绍 | 第26-31页 |
| 1.6.1 基2时域抽取FFT算法基本原理 | 第27-28页 |
| 1.6.2 基2时域抽取FFT的分解 | 第28-30页 |
| 1.6.3 总结 | 第30-31页 |
| 第二章 自旋噪声谱仪开发 | 第31-45页 |
| 2.1 关于谱仪选购与开发的思考 | 第31-32页 |
| 2.2 FPGA与频谱仪比较 | 第32-33页 |
| 2.3 开发板卡简介 | 第33-35页 |
| 2.3.1 U5309A板卡框图 | 第33-34页 |
| 2.3.2 板卡参数 | 第34-35页 |
| 2.4 FPGA开发套件概况 | 第35-36页 |
| 2.5 FPGA方案设计 | 第36-37页 |
| 2.6 开发结果 | 第37-39页 |
| 2.6.1 数据利用率 | 第38-39页 |
| 2.7 基于LABVIEW的软件控制平台 | 第39-45页 |
| 2.7.1 前面板介绍 | 第39-41页 |
| 2.7.2 后面板介绍 | 第41-43页 |
| 2.7.3 总结 | 第43-45页 |
| 第三章 实验系统及测量 | 第45-52页 |
| 3.1 实验系统介绍 | 第45-46页 |
| 3.2 自旋噪声谱仪性能验证 | 第46-47页 |
| 3.3 N-GAAS自旋噪声谱测量 | 第47-50页 |
| 3.3.1 磁场系列 | 第47-48页 |
| 3.3.2 波长系列 | 第48-49页 |
| 3.3.3 温度系列 | 第49页 |
| 3.3.4 功率系列 | 第49-50页 |
| 3.4 总结与展望 | 第50-52页 |
| 参考文献 | 第52-57页 |
| 攻读学位期间取得的研究成果 | 第57-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
| 个人简况及联系方式 | 第59-62页 |
