摘要 | 第4-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第11-26页 |
1.1 多孔材料的分类 | 第11-13页 |
1.1.1 微孔材料 | 第11-12页 |
1.1.2 介孔材料 | 第12-13页 |
1.1.3 大孔材料 | 第13页 |
1.2 多级孔材料的研究进展 | 第13-24页 |
1.2.1 微孔-介孔材料 | 第14-17页 |
1.2.2 微孔-大孔材料 | 第17-19页 |
1.2.3 介孔-大孔材料 | 第19-22页 |
1.2.4 微孔-介孔-大孔材料 | 第22-23页 |
1.2.5 多级孔材料的应用 | 第23-24页 |
1.3 本论文的研究目的及主要研究内容 | 第24-26页 |
第二章 实验与测试 | 第26-33页 |
2.1 实验原料与设备 | 第26-27页 |
2.1.1 实验原料 | 第26页 |
2.1.2 实验设备 | 第26-27页 |
2.2 实验方案与工艺流程 | 第27-30页 |
2.2.1 单级孔薄膜的制备 | 第27-29页 |
2.2.2 多级孔薄膜的制备 | 第29-30页 |
2.3 表征与测试 | 第30-33页 |
2.3.1 X射线衍射(XRD) | 第30-31页 |
2.3.2 傅里叶变换红外光谱(FT-IR) | 第31页 |
2.3.3 扫描电子显微镜(SEM) | 第31页 |
2.3.4 三维非接触式轮廓仪(3DProfiling) | 第31页 |
2.3.5 透射电子显微镜(TEM) | 第31-32页 |
2.3.6 氮气吸附脱附测试 | 第32-33页 |
第三章 单级孔薄膜的制备与结构表征 | 第33-58页 |
3.1 引言 | 第33-38页 |
3.2 ZSM-5微孔薄膜的原位合成及其结构表征 | 第38-45页 |
3.2.1 ZSM-5微孔薄膜生长的关键工艺 | 第38-42页 |
3.2.2 ZSM-5微孔薄膜的形貌分析 | 第42-44页 |
3.2.3 ZSM-5微孔薄膜的红外分析 | 第44-45页 |
3.2.4 ZSM-5微孔薄膜的孔结构分析 | 第45页 |
3.3 SiO_2介孔薄膜的EISA法制备及其结构表征 | 第45-51页 |
3.3.1 溶液混合搅拌温度对SiO_2介孔薄膜生长的影响 | 第46-47页 |
3.3.2 SiO_2介孔薄膜的3D形貌分析 | 第47-48页 |
3.3.3 SiO_2介孔薄膜的物相分析 | 第48-49页 |
3.3.4 SiO_2介孔薄膜的TEM分析 | 第49-50页 |
3.3.5 SiO_2介孔薄膜的红外分析 | 第50-51页 |
3.4 SiO_2大孔薄膜的胶晶模板法制备及其结构表征 | 第51-56页 |
3.4.1 SiO_2大孔薄膜制备的关键工艺 | 第51-53页 |
3.4.2 SiO_2大孔薄膜的显微结构分析 | 第53-54页 |
3.4.3 SiO_2大孔薄膜的3D形貌分析 | 第54-55页 |
3.4.4 SiO_2大孔薄膜的红外分析 | 第55-56页 |
3.5 本章小结 | 第56-58页 |
第四章 多级孔薄膜的制备、结构表征及结合机理 | 第58-81页 |
4.1 引言 | 第58-59页 |
4.2 微孔-介孔薄膜的制备与结构表征 | 第59-64页 |
4.2.1 微孔-介孔薄膜的形貌分析 | 第60-61页 |
4.2.2 微孔-介孔薄膜的红外分析 | 第61-62页 |
4.2.3 微孔-介孔薄膜的孔结构分析 | 第62-64页 |
4.3 微孔-大孔薄膜的制备与结构表征 | 第64-70页 |
4.3.1 微孔-大孔薄膜的孔结构分析 | 第65-68页 |
4.3.2 微孔-大孔薄膜的3D形貌分析 | 第68-69页 |
4.3.3 微孔-大孔薄膜的红外分析 | 第69-70页 |
4.4 微孔-介孔-大孔薄膜的制备与结构表征 | 第70-76页 |
4.4.1 微孔-介孔-大孔薄膜的孔结构分析 | 第70-74页 |
4.4.2 微孔-介孔-大孔薄膜的3D形貌分析 | 第74-75页 |
4.4.3 微孔-介孔-大孔薄膜的红外分析 | 第75-76页 |
4.5 多级孔薄膜的层间结合机理分析 | 第76-79页 |
4.6 本章小结 | 第79-81页 |
第五章 结论与展望 | 第81-83页 |
5.1 结论 | 第81-82页 |
5.2 展望 | 第82-83页 |
参考文献 | 第83-89页 |
攻读硕士学位期间发表的论文及申请专利情况 | 第89-90页 |
致谢 | 第90页 |