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绝缘子串倒T型布置方式的污秽与覆冰交流闪络特性研究

中文摘要第3-5页
英文摘要第5-6页
1 绪论第9-19页
    1.1 课题的背景及意义第9-10页
    1.2 绝缘子污秽闪络的国内外研究现状第10-13页
        1.2.1 绝缘子污秽闪络特性及其影响因素第11-12页
        1.2.2 绝缘子污秽闪络过程第12-13页
    1.3 绝缘子覆冰闪络的国内外研究现状第13-17页
        1.3.1 绝缘子覆冰类型第13-14页
        1.3.2 绝缘子覆冰闪络特性及其影响因素第14-17页
        1.3.3 绝缘子覆冰闪络过程第17页
    1.4 论文研究的主要内容第17-18页
    1.5 本章小结第18-19页
2 试品、试验装置及试验方法第19-29页
    2.1 引言第19页
    2.2 试品第19-20页
    2.3 试验装置和试验原理第20-24页
        2.3.1 试验装置第20-21页
        2.3.2 测量装置第21-23页
        2.3.3 试验原理及绝缘子串倒T型布置方式第23-24页
    2.4 试验程序和方法第24-27页
        2.4.1 污秽闪络试验第24-25页
        2.4.2 覆冰闪络试验第25-27页
    2.5 本章小结第27-29页
3 绝缘子串倒T型布置方式的交流污秽闪络特性第29-47页
    3.1 引言第29页
    3.2 绝缘子串“2+2”型倒T型布置的污秽闪络特性第29-32页
        3.2.1 盐密对绝缘子串污闪电压的影响第29-31页
        3.2.2 污秽闪络电压提高百分比第31-32页
    3.3 绝缘子串“3+3”型倒T型布置的污秽闪络特性第32-35页
        3.3.1 盐密对绝缘子串污闪电压的影响第32-34页
        3.3.2 污秽闪络电压提高百分比第34-35页
    3.4 绝缘子串“7+2”型倒T型布置的污秽闪络特性第35-40页
        3.4.1 盐密对绝缘子串污闪电压的影响第35-37页
        3.4.2 污秽闪络电压提高百分比第37-38页
        3.4.3 绝缘子串泄漏电流分析第38-40页
    3.5 绝缘子串倒T型布置提高闪络电压的原因第40-41页
    3.6 布置方式对绝缘子串污闪放电过程的影响第41-45页
    3.7 本章小结第45-47页
4 绝缘子串倒T型布置方式的交流覆冰闪络特性第47-65页
    4.1 引言第47页
    4.2 布置方式对绝缘子串覆冰形态的影响第47-49页
    4.3 覆冰闪络试验结果及分析第49-50页
    4.4 绝缘子串交流覆冰闪络特性第50-57页
        4.4.1 盐密对冰闪电压的影响第50-52页
        4.4.2 覆冰程度对冰闪电压的影响第52-53页
        4.4.3 绝缘子串泄漏电流分析第53-55页
        4.4.4 冰闪电压提高百分比第55-57页
    4.5 布置方式对绝缘子串冰闪放电过程的影响第57-64页
    4.6 本章小结第64-65页
5 结论与展望第65-67页
致谢第67-69页
参考文献第69-71页

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