放射性泄漏气体快速检测技术研究
| 摘要 | 第3-4页 |
| abstract | 第4-5页 |
| 第1章 引言 | 第9-23页 |
| 1.1 选题背景 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究动态 | 第10-18页 |
| 1.2.1 一般泄漏检测技术 | 第10-11页 |
| 1.2.2 放射性氙富集技术 | 第11-14页 |
| 1.2.3 膜分离技术 | 第14-16页 |
| 1.2.4 氙测量技术 | 第16-18页 |
| 1.3 检测对象分析 | 第18-20页 |
| 1.4 放射性氙现场快速监测系统研制 | 第20-23页 |
| 1.4.1 研究目标及指标 | 第20页 |
| 1.4.2 原型系统结构 | 第20-21页 |
| 1.4.3 技术路线 | 第21页 |
| 1.4.4 主要研究内容 | 第21-23页 |
| 第2章 氙的超低温动态吸附技术研究 | 第23-76页 |
| 2.1 吸附理论概述 | 第23-28页 |
| 2.1.1 基本吸附原理 | 第23-27页 |
| 2.1.2 多分子层吸附理论 | 第27-28页 |
| 2.2 吸附剂孔结构表征 | 第28-42页 |
| 2.2.1 吸附剂孔结构表征理论 | 第28-33页 |
| 2.2.2 吸附剂孔结构表征结果分析 | 第33-42页 |
| 2.3 77K温度下吸附剂对氙的动态吸附特性 | 第42-64页 |
| 2.3.1 动态吸附特性测试理论 | 第42-44页 |
| 2.3.2 动态吸附性能测试装置设计 | 第44-46页 |
| 2.3.3 气体浓度测试标准曲线 | 第46-50页 |
| 2.3.4 氙的动态吸附特性分析 | 第50-60页 |
| 2.3.5 氙动态吸附特性的动力学解释 | 第60-64页 |
| 2.4 CO_2、CO和H_2O除杂性能研究 | 第64-75页 |
| 2.4.1 CO_2除杂性能研究 | 第64-70页 |
| 2.4.2 CO除杂性能研究 | 第70-71页 |
| 2.4.3 H_2O除杂性能研究 | 第71-75页 |
| 2.5 本章小结 | 第75-76页 |
| 第3章 中空纤维膜除杂性能研究 | 第76-91页 |
| 3.1 理论基础 | 第76-79页 |
| 3.2 研究方法 | 第79-81页 |
| 3.3 气体分离性能分析 | 第81-90页 |
| 3.3.1 膜组件尺寸选择 | 第81-83页 |
| 3.3.2 单一膜组件条件实验 | 第83-86页 |
| 3.3.3 膜组件组配方式的优选 | 第86-88页 |
| 3.3.4 三膜串联组配的条件实验 | 第88-90页 |
| 3.4 本章小结 | 第90-91页 |
| 第4章 放射性氙测量技术研究 | 第91-103页 |
| 4.1 取样/测量过程的活度变化理论 | 第91-93页 |
| 4.2 探测效率校准技术 | 第93-99页 |
| 4.2.1 均匀分布模型校准 | 第93-96页 |
| 4.2.2 非均匀分布吸附柱探测效率校准 | 第96-99页 |
| 4.3 屏蔽室设计 | 第99-102页 |
| 4.4 本章小结 | 第102-103页 |
| 第5章 系统研制与测试 | 第103-117页 |
| 5.1 总体设计思路 | 第103-104页 |
| 5.1.1 总体设计思路 | 第103页 |
| 5.1.2 系统设计指标 | 第103-104页 |
| 5.2 系统研制 | 第104-110页 |
| 5.2.1 系统布局设计 | 第104-105页 |
| 5.2.2 关键组件设计加工 | 第105-110页 |
| 5.3 指标测试 | 第110-116页 |
| 5.3.1 回收率 | 第111-113页 |
| 5.3.2 最小可探测活度浓度 | 第113-115页 |
| 5.3.3 测量不确定度评价 | 第115-116页 |
| 5.4 本章小结 | 第116-117页 |
| 第6章 总结与建议 | 第117-120页 |
| 6.1 论文开展的工作 | 第117-118页 |
| 6.2 创新点 | 第118页 |
| 6.3 建议 | 第118-120页 |
| 参考文献 | 第120-126页 |
| 致谢 | 第126-128页 |
| 个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第128-129页 |
