| 摘要 | 第5-8页 |
| Abstract | 第8-11页 |
| 第1章 引言 | 第16-28页 |
| 1.1 课题研究背景与意义 | 第16-17页 |
| 1.2 光学系统检测技术发展现状 | 第17-25页 |
| 1.2.1 自准直检测 | 第18-19页 |
| 1.2.2 平行光管检测 | 第19-20页 |
| 1.2.3 基于夏克-哈特曼波前传感技术的检测方法 | 第20-21页 |
| 1.2.4 子孔径拼接自准直检测 | 第21-23页 |
| 1.2.5 五棱镜扫描检测 | 第23-24页 |
| 1.2.6 光学系统内置点光源检测技术 | 第24-25页 |
| 1.3 论文主要研究内容 | 第25-28页 |
| 第2章 扫描哈特曼检测技术理论基础 | 第28-46页 |
| 2.1 扫描哈特曼检测原理 | 第28-33页 |
| 2.1.1 哈特曼检测原理 | 第28-29页 |
| 2.1.2 扫描哈特曼检测原理 | 第29-31页 |
| 2.1.3 扫描哈特曼检测的特性分析 | 第31-33页 |
| 2.2 波前重构算法 | 第33-40页 |
| 2.2.1 波像差与横向像差的关系 | 第33-34页 |
| 2.2.2 模式法波前重构 | 第34-37页 |
| 2.2.3 区域法波前重构 | 第37-40页 |
| 2.3 光斑质心高精度提取方法 | 第40-45页 |
| 2.4 本章小结 | 第45-46页 |
| 第3章 扫描哈特曼检测原理验证与误差分析研究 | 第46-72页 |
| 3.1 扫描哈特曼检测原理的计算机仿真验证 | 第46-55页 |
| 3.1.1 检测原理仿真分析 | 第46-49页 |
| 3.1.2 检测精度分析与参数优选 | 第49-53页 |
| 3.1.3 高阶模式重构精度仿真分析 | 第53-55页 |
| 3.2 扫描哈特曼检测误差分析 | 第55-65页 |
| 3.2.1 扫描光束的定位误差 | 第56-58页 |
| 3.2.2 扫描光束的指向误差 | 第58-61页 |
| 3.2.3 视场误差 | 第61-62页 |
| 3.2.4 像面图像传感器装调误差 | 第62-65页 |
| 3.3 扫描哈特曼检测原理验证实验 | 第65-71页 |
| 3.3.1 实验设计 | 第65-69页 |
| 3.3.2 实验结果 | 第69-70页 |
| 3.3.3 实验误差分析 | 第70-71页 |
| 3.4 本章小结 | 第71-72页 |
| 第4章 基于扫描哈特曼的多光束拼接检测技术的算法与性能分析研究 | 第72-88页 |
| 4.1 基于扫描哈特曼的多光束拼接检测技术理论分析 | 第72-75页 |
| 4.1.1 两两拼接方法 | 第72-73页 |
| 4.1.2 基于斜率Zernike拟合的误差解耦方法 | 第73-75页 |
| 4.2 基于扫描哈特曼的多光束拼接检测性能分析与优化 | 第75-79页 |
| 4.2.1 多光束阵列参数优选分析 | 第75-78页 |
| 4.2.2 焦面图像传感器参数优选分析 | 第78-79页 |
| 4.3 基于扫描哈特曼的多光束拼接检测算法研究 | 第79-86页 |
| 4.3.1 基于斜率Zernike多项式拟合的误差解耦算法的数学模型 | 第79-82页 |
| 4.3.2 误差解耦算法精度仿真分析 | 第82-86页 |
| 4.4 本章小结 | 第86-88页 |
| 第5章 基于扫描哈特曼的多光束拼接检测技术的应用技术研究 | 第88-112页 |
| 5.1 基于扫描哈特曼的多光束拼接检测系统设计与开发 | 第88-92页 |
| 5.1.1 检测系统开发 | 第88-91页 |
| 5.1.2 检测性能分析 | 第91-92页 |
| 5.2 基于扫描哈特曼的多光束拼接检测系统误差分析与标定 | 第92-98页 |
| 5.2.1 光管阵列指向误差标定与校准 | 第92-95页 |
| 5.2.2 导轨误差标定 | 第95-98页 |
| 5.3 基于扫描哈特曼的多光束拼接检测实际光学系统的应用实例 | 第98-110页 |
| 5.3.1 实际光学系统检测方案 | 第98-102页 |
| 5.3.2 检测结果分析与讨论 | 第102-110页 |
| 5.4 本章小结 | 第110-112页 |
| 第6章 总结与展望 | 第112-116页 |
| 6.1 总结 | 第112-113页 |
| 6.2 论文创新点 | 第113页 |
| 6.3 工作展望 | 第113-116页 |
| 参考文献 | 第116-126页 |
| 致谢 | 第126-128页 |
| 作者简介及攻读学位期间发表的学术论文与研究成果 | 第128页 |
