致谢 | 第7-8页 |
摘要 | 第8-9页 |
ABSTRACT | 第9-10页 |
第一章 绪论 | 第17-28页 |
1.1 引言 | 第17页 |
1.2 磁电复合材料概述 | 第17-19页 |
1.2.1 磁电复合材料研究历史 | 第17页 |
1.2.2 磁电效应机理及影响因素 | 第17-19页 |
1.3 磁电复合薄膜 | 第19-21页 |
1.3.1 磁电复合薄膜结构类型 | 第19-21页 |
1.4 磁电复合薄膜的制备方法 | 第21-23页 |
1.4.1 脉冲激光沉积法 | 第21页 |
1.4.2 磁控溅射法 | 第21-22页 |
1.4.3 分子束外延法 | 第22页 |
1.4.4 金属有机物化学气相沉积法 | 第22页 |
1.4.5 溶胶-凝胶法 | 第22-23页 |
1.5 无铅磁电复合薄膜 | 第23-26页 |
1.5.1 钛酸铋钠(NBT)基磁电复合薄膜 | 第23-24页 |
1.5.2 铌酸钾钠(KNN)基磁电复合薄膜 | 第24页 |
1.5.3 铁酸铋BiFeO_3(BFO)基磁电复合薄膜 | 第24页 |
1.5.4 钛酸钡BaTiO_3基磁电复合薄膜 | 第24-25页 |
1.5.5 铁酸钴CoFe_2O_4材料简介 | 第25-26页 |
1.5.6 (Ba_(1-x)Ca_x)TiO_3铁电材料 | 第26页 |
1.6 本文研究目的与内容 | 第26-28页 |
第二章 BCT粉体的制备及性能表征 | 第28-34页 |
2.1 实验过程 | 第28-29页 |
2.1.1 实验原料 | 第28页 |
2.1.2 BCT溶胶及粉体制备 | 第28-29页 |
2.2 BCT粉体的性能表征 | 第29页 |
2.3 结果与分析 | 第29-32页 |
2.3.1 BCT粉体TG-DSC分析 | 第29-30页 |
2.3.2 BCT粉体的FTIR分析 | 第30-31页 |
2.3.3 BCT粉体的XRD分析 | 第31-32页 |
2.3.4 BCT粉体的TEM分析 | 第32页 |
2.4 本章小结 | 第32-34页 |
第三章 BCT薄膜制备与性能探究 | 第34-44页 |
3.1 BCT薄膜制备 | 第34-36页 |
3.1.1 引言 | 第34页 |
3.1.2 实验材料及仪器设备 | 第34-35页 |
3.1.3 溶胶制备 | 第35页 |
3.1.4 薄膜旋涂 | 第35页 |
3.1.5 不同退火工艺下的BCT薄膜制备 | 第35页 |
3.1.6 薄膜电极制备 | 第35-36页 |
3.2 性能表征及结果分析 | 第36-43页 |
3.2.1 BCT薄膜XRD分析 | 第36-37页 |
3.2.2 BCT薄膜表面形貌分析 | 第37-39页 |
3.2.3 BCT薄膜断面形貌分析 | 第39页 |
3.2.4 BCT薄膜原子力形貌分析 | 第39-41页 |
3.2.5 BCT薄膜铁电性能分析 | 第41-42页 |
3.2.6 BCT薄膜介电性能分析 | 第42-43页 |
3.3 本章小结 | 第43-44页 |
第四章 CFO薄膜制备与性能表征 | 第44-54页 |
4.1 引言 | 第44页 |
4.2 实验材料及仪器设备 | 第44-45页 |
4.3 CFO粉体制备 | 第45-46页 |
4.3.1 柠檬酸法制备CFO粉体 | 第45页 |
4.3.2 乙酸法制备CFO粉体 | 第45-46页 |
4.4 CFO薄膜的制备 | 第46-47页 |
4.4.1 衬底的清洗 | 第46页 |
4.4.2 旋涂薄膜 | 第46-47页 |
4.5 CFO粉体与薄膜的性能表征 | 第47页 |
4.6 实验结果分析 | 第47-53页 |
4.6.1 CFO粉体的差热与热重分析 | 第47-48页 |
4.6.2 CFO粉体的X射线衍射分析 | 第48-50页 |
4.6.3 CFO薄膜的X射线衍射分析 | 第50页 |
4.6.4 CFO薄膜的表面形貌分析 | 第50-51页 |
4.6.5 CFO薄膜的断面形貌分析 | 第51页 |
4.6.6 CFO薄膜的原子力形貌分析 | 第51-52页 |
4.6.7 CFO薄膜的铁磁性能分析 | 第52-53页 |
4.7 本章小结 | 第53-54页 |
第五章 磁电复合薄膜的制备及性能研究 | 第54-66页 |
5.1 引言 | 第54页 |
5.2 磁电复合薄膜的制备 | 第54-55页 |
5.2.1 溶胶的制备 | 第54页 |
5.2.2 薄膜的制备 | 第54页 |
5.2.3 薄膜的热处理 | 第54-55页 |
5.3 BCT/CFO磁电复合薄膜的性能表征 | 第55-56页 |
5.3.1 物相表征 | 第55页 |
5.3.2 扫描电镜显微形貌表征 | 第55-56页 |
5.3.3 扫描探针显微镜显微形貌表征 | 第56页 |
5.3.4 铁电性能表征 | 第56页 |
5.3.5 铁磁性能表征 | 第56页 |
5.3.6 XPS表征 | 第56页 |
5.3.7 磁电性能的表征 | 第56页 |
5.4 结果与分析 | 第56-65页 |
5.4.1 磁电复合薄膜的X射线衍射分析 | 第56-57页 |
5.4.2 磁电复合薄膜的表面形貌分析 | 第57-58页 |
5.4.3 磁电复合薄膜的断面形貌分析 | 第58-59页 |
5.4.4 磁电复合薄膜的原子力形貌分析 | 第59-61页 |
5.4.5 磁电复合薄膜的铁电性能分析 | 第61-62页 |
5.4.6 磁电复合薄膜的磁性能分析 | 第62-63页 |
5.4.7 磁电复合薄膜两相界面扩散分析 | 第63-64页 |
5.4.8 磁电复合薄膜的磁电耦合性能分析 | 第64-65页 |
5.5 本章小结 | 第65-66页 |
第六章 全文总结 | 第66-68页 |
参考文献 | 第68-74页 |
攻读硕士期间发表的论文 | 第74页 |