| 提要 | 第4-5页 |
| 中文摘要 | 第5-8页 |
| abstract | 第8-11页 |
| 第1章 绪论 | 第18-36页 |
| 1.1 研究背景 | 第18-22页 |
| 1.2 研究意义 | 第22-23页 |
| 1.3 研究现状 | 第23-34页 |
| 1.3.1 谱峰位置检测方法 | 第23-28页 |
| 1.3.2 谱峰面积检测方法 | 第28-30页 |
| 1.3.3 仪器控制软件 | 第30-34页 |
| 1.4 研究内容 | 第34-36页 |
| 第2章 TOF-SIMS谱峰位置检测方法研究 | 第36-70页 |
| 2.1 引言 | 第36-37页 |
| 2.2 TOF-SIMS数据预处理方法 | 第37-51页 |
| 2.2.1 平滑滤波 | 第37-46页 |
| 2.2.2 背景扣除 | 第46-49页 |
| 2.2.3 质量校正 | 第49-51页 |
| 2.3 基于粒子移动和CWT的谱峰检测方法 | 第51-60页 |
| 2.3.1 CWT谱峰检测原理 | 第53-56页 |
| 2.3.2 基于粒子移动的脊线搜索策略 | 第56-59页 |
| 2.3.3 谱峰位置确定与方法参数优化 | 第59-60页 |
| 2.4 算法的仿真比较 | 第60-66页 |
| 2.4.1 重叠峰分辨能力比较 | 第60-64页 |
| 2.4.2 基于ROC曲线的综合寻峰性能对比 | 第64-66页 |
| 2.5 算法在TOF-MS谱图中的应用 | 第66-67页 |
| 2.6 本章小结 | 第67-70页 |
| 第3章 TOF-SIMS谱峰面积检测方法研究 | 第70-88页 |
| 3.1 引言 | 第70-71页 |
| 3.2 基于CWT和曲线拟合的谱峰面积检测方法 | 第71-77页 |
| 3.2.1 峰宽估计原理 | 第72-74页 |
| 3.2.2 尺度参数对峰宽估计的影响 | 第74-76页 |
| 3.2.3 曲线拟合 | 第76页 |
| 3.2.4 方法流程 | 第76-77页 |
| 3.3 算法的仿真比较 | 第77-82页 |
| 3.3.1 峰宽估计精度 | 第77-80页 |
| 3.3.2 重叠峰分辨能力 | 第80-82页 |
| 3.3.3 噪声抵抗能力 | 第82页 |
| 3.4 算法在TOF-SIMS谱图中的应用 | 第82-86页 |
| 3.5 本章小结 | 第86-88页 |
| 第4章 基于LabVIEW面向对象的仪器控制软件 | 第88-110页 |
| 4.1 引言 | 第88页 |
| 4.2 TOF-SIMS仪器硬件描述及控制需求 | 第88-93页 |
| 4.3 基于LabVIEW面向对象的控制软件开发方法 | 第93-101页 |
| 4.3.1 LabVIEW面向对象概述 | 第93-94页 |
| 4.3.2 软件总体架构 | 第94-97页 |
| 4.3.3 仪器控制类层 | 第97-98页 |
| 4.3.4 程序开发模式 | 第98-101页 |
| 4.4 TOF-SIMS仪器控制软件 | 第101-108页 |
| 4.5 本章小结 | 第108-110页 |
| 第5章 TOF-SIMS铅同位素分析实验 | 第110-124页 |
| 5.1 引言 | 第110页 |
| 5.2 铅同位素分析实验 | 第110-117页 |
| 5.2.1 方铅矿待测样品制备 | 第110-112页 |
| 5.2.2 TOF-SIMS仪器参数优化 | 第112-117页 |
| 5.3 铅同位素谱峰检测 | 第117-122页 |
| 5.4 结果与讨论 | 第122-123页 |
| 5.5 本章小结 | 第123-124页 |
| 第6章 全文总结 | 第124-128页 |
| 6.1 主要创新点 | 第124-125页 |
| 6.2 存在的不足及下一步工作建议 | 第125-128页 |
| 参考文献 | 第128-140页 |
| 攻读博士学位期间取得的主要学术成果 | 第140-142页 |
| 致谢 | 第142页 |