摘要 | 第5-6页 |
abstract | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第10-15页 |
1.1 背景概况及研究意义 | 第10-11页 |
1.2 课题研究历史与现状 | 第11-13页 |
1.3 本文研究内容及结构安排 | 第13-15页 |
第二章 LTE-V2V系统和无线信道模型 | 第15-25页 |
2.1 LTE-V2V系统基本原理 | 第15-19页 |
2.1.1 SC-FDMA技术概述 | 第15-16页 |
2.1.2 LTE-V2V系统基带模型 | 第16-19页 |
2.2 无线信道模型 | 第19-22页 |
2.3 衰落信道的统计特性 | 第22-24页 |
2.4 本章小结 | 第24-25页 |
第三章 传统信道估计算法研究 | 第25-47页 |
3.1 LTEbaseline仿真平台 | 第25-34页 |
3.1.1 LTE系统物理层原理 | 第25页 |
3.1.2 信道编解码 | 第25-26页 |
3.1.3 MIMO模块 | 第26-28页 |
3.1.4 OFDM调制解调 | 第28页 |
3.1.5 仿真平台验证 | 第28-34页 |
3.2 基于统计特征的内插算法 | 第34-39页 |
3.2.1 Wiener滤波算法 | 第35-36页 |
3.2.2 MMSE内插算法 | 第36-39页 |
3.3 基于固定系数的内插算法 | 第39-40页 |
3.3.1 线性内插 | 第39页 |
3.3.2 二阶高斯内插 | 第39页 |
3.3.3 三阶样条内插 | 第39-40页 |
3.3.4 三阶拉格朗日内插 | 第40页 |
3.4 基于低通滤波的内插算法 | 第40-42页 |
3.4.1 Kaiser窗内插算法 | 第41页 |
3.4.2 升余弦窗内插算法 | 第41-42页 |
3.5 多径衰落信道下性能仿真 | 第42-46页 |
3.5.1 AWGN信道下仿真 | 第42-43页 |
3.5.2 平坦衰落信道下仿真 | 第43-44页 |
3.5.3 多径衰落信道下仿真 | 第44-46页 |
3.6 本章小结 | 第46-47页 |
第四章 高速移动环境下信道估计算法 | 第47-61页 |
4.1 基于BEM的导频CIR估计 | 第47-50页 |
4.2 时域基于块状导频内插算法 | 第50-52页 |
4.3 导频CIR估计及内插算法改进 | 第52-55页 |
4.4 CRLB推导 | 第55-60页 |
4.4.1 导频符号CIR估计的CRLB推导 | 第56-57页 |
4.4.2 基于SS-PWI的数据符号估计的CRLB推导 | 第57-60页 |
4.5 本章小结 | 第60-61页 |
第五章 LTE-V2V系统解调性能仿真 | 第61-73页 |
5.1 ICI相消均衡算法 | 第61-64页 |
5.1.1 基于MMSE的ICI相消均衡 | 第61-63页 |
5.1.2 传统的单抽头迫零ICI相消均衡 | 第63页 |
5.1.3 MMSE相消的ICI均衡和ZF均衡的性能对比 | 第63-64页 |
5.2 LSQR迭代均衡 | 第64-66页 |
5.3 仿真分析 | 第66-72页 |
5.3.1 参数优化 | 第66-68页 |
5.3.2 信道估计和均衡的性能 | 第68-72页 |
5.4 本章小结 | 第72-73页 |
第六章 全文总结与展望 | 第73-75页 |
6.1 总结 | 第73页 |
6.2 展望 | 第73-75页 |
致谢 | 第75-76页 |
参考文献 | 第76-79页 |
攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第79页 |