导引系统红外成像标定技术研究
| 致谢 | 第5-6页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 1 引言 | 第11-19页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第11-12页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第12-17页 |
| 1.2.1 红外成像导引技术发展与应用现状 | 第12-14页 |
| 1.2.2 非均匀性校正方法研究现状 | 第14-16页 |
| 1.2.3 盲元检测与补偿方法研究现状 | 第16-17页 |
| 1.3 论文研究内容与组织结构 | 第17-19页 |
| 2 导引系统标定关键技术研究 | 第19-39页 |
| 2.1 导引系统红外图像分析 | 第19-20页 |
| 2.2 非均匀性校正方法研究 | 第20-30页 |
| 2.2.1 非均匀性校正理论模型 | 第20-22页 |
| 2.2.2 常用非均匀性校正方法 | 第22-26页 |
| 2.2.3 非均匀性校正方法改进 | 第26-30页 |
| 2.3 盲元检测方法研究 | 第30-35页 |
| 2.3.1 基于滑动窗口的3σ检测方法改进 | 第30-33页 |
| 2.3.2 基于SVM与3σ检测相结合的方法 | 第33-35页 |
| 2.4 盲元补偿方法研究 | 第35-37页 |
| 2.4.1 邻域替代法 | 第35-36页 |
| 2.4.2 改进的邻域替代法 | 第36-37页 |
| 2.5 本章小结 | 第37-39页 |
| 3 导引系统标定关键技术仿真实验 | 第39-51页 |
| 3.1 非均匀性校正仿真实验 | 第39-44页 |
| 3.1.1 非均匀性仿真图像生成 | 第39-41页 |
| 3.1.2 校正算法仿真 | 第41-43页 |
| 3.1.3 校正参数存储空间分析 | 第43-44页 |
| 3.2 盲元检测仿真实验 | 第44-49页 |
| 3.2.1 基于滑动窗口的3σ方法改进检测结果 | 第44-47页 |
| 3.2.2 基于SVM和3σ方法结合的检测结果 | 第47-49页 |
| 3.2.3 几种盲元检测方法结果对比分析 | 第49页 |
| 3.3 盲元补偿仿真实验 | 第49-50页 |
| 3.4 本章小结 | 第50-51页 |
| 4 红外图像采集与标定系统设计 | 第51-65页 |
| 4.1 需求分析及方案设计 | 第51-53页 |
| 4.2 标定黑体设计 | 第53-60页 |
| 4.2.1 总体设计 | 第53-54页 |
| 4.2.2 硬件电路设计 | 第54-58页 |
| 4.2.3 嵌入式软件设计 | 第58-60页 |
| 4.3 标定系统总控软件设计 | 第60-64页 |
| 4.3.1 软件结构设计 | 第60-61页 |
| 4.3.2 数据交互分析 | 第61-62页 |
| 4.3.3 软件界面设计 | 第62-64页 |
| 4.4 本章小结 | 第64-65页 |
| 5 实验验证与分析 | 第65-75页 |
| 5.1 标定系统搭建与实验流程设计 | 第65-67页 |
| 5.2 标定图像采集与标定参数计算 | 第67-70页 |
| 5.2.1 标定图像采集 | 第67-68页 |
| 5.2.2 非均匀性校正参数计算 | 第68-69页 |
| 5.2.3 盲元位置表计算 | 第69-70页 |
| 5.3 标定参数验证实验结果与分析 | 第70-74页 |
| 5.4 本章小结 | 第74-75页 |
| 6 结论与展望 | 第75-77页 |
| 6.1 结论 | 第75-76页 |
| 6.2 展望 | 第76-77页 |
| 参考文献 | 第77-81页 |
| 作者简历及攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第81-85页 |
| 学位论文数据集 | 第85页 |
