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基于状态的android内核漏洞挖掘技术研究

摘要第5-6页
ABSTRACT第6-7页
第一章 绪论第10-16页
    1.1 背景介绍第10-11页
        1.1.1 Android简介第10页
        1.1.2 Android安全问题第10-11页
    1.2 研究现状第11-13页
        1.2.1 Android安全研究现状第11-12页
        1.2.2 Android内核研究现状第12-13页
    1.3 主要研究内容第13-14页
    1.4 本文组织结构第14-16页
第二章 Android内核安全漏洞第16-30页
    2.1 Android系统架构第16-17页
        2.1.1 应用程序层第16-17页
        2.1.2 应用程序框架层第17页
        2.1.3 系统运行库层第17页
        2.1.4 Linux内核层第17页
    2.2 Android安全机制第17-23页
        2.2.1 Android安全机制介绍第18页
        2.2.2 SEAndroid第18-23页
    2.3 Android内核漏洞介绍第23-24页
        2.3.1 内核漏洞分类第23页
        2.3.2 Android内核常见漏洞类型介绍第23-24页
    2.4 Android内核漏洞实例分析第24-29页
        2.4.1 Android驱动漏洞分析第24-27页
        2.4.2 Android内核代码漏洞分析第27-29页
    2.5 本章小结第29-30页
第三章 基于脆弱状态提取的内核漏洞快速挖掘技术第30-46页
    3.1 漏洞挖掘方法第30-31页
        3.1.1 静态漏洞挖掘技术第30-31页
        3.1.2 动态漏洞挖掘技术第31页
    3.2 模糊测试技术第31-34页
    3.3 基于脆弱状态提取的快速模糊测试技术第34-40页
        3.3.1 基于脆弱状态提取的快速模糊测试技术第34-35页
        3.3.2 内核脆弱状态提取第35-39页
        3.3.3 基于脆弱状态提取的测试用例生成方法第39-40页
    3.4 基于脆弱状态提取的模糊测试算法第40-45页
        3.4.1 有限状态机理论第41-42页
        3.4.2 基于脆弱状态提取的内核FSM模型第42-43页
        3.4.3 算法设计第43-45页
    3.5 本章小结第45-46页
第四章 基于脆弱状态提取的内核快速漏洞挖掘系统设计与实现第46-54页
    4.1 系统总体设计第46页
    4.2 状态库构建模块设计第46-47页
    4.3 脆弱状态选择模块设计第47页
    4.4 测试用例生成模块设计第47-49页
    4.5 模糊测试模块设计第49-50页
    4.6 异常处理模块设计第50-51页
    4.7 反馈模块设计第51-52页
    4.8 本章小结第52-54页
第五章 系统测试与分析第54-68页
    5.1 脆弱状态提取第54-56页
    5.2 基于脆弱状态提取的模糊测试第56-61页
        5.2.1 测试目标第56-58页
        5.2.2 测试方案第58-61页
    5.3 测试样本优化第61-63页
    5.4 测试结果与分析第63-67页
        5.4.1 耦合状态漏洞分析第64-65页
        5.4.2 内存操作状态漏洞分析第65-67页
    5.5 实验小结第67-68页
第六章 总结和展望第68-70页
    6.1 本文工作总结第68-69页
    6.2 未来研究展望第69-70页
参考文献第70-73页
致谢第73-74页
攻读学位期间取得的研究成果第74页

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