| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-28页 |
| 1.1 研究背景和意义 | 第10-17页 |
| 1.1.1 传输阵列天线的研究背景和意义 | 第10-14页 |
| 1.1.2 太赫兹传输阵列天线和微细加工工艺的研究背景和意义 | 第14-17页 |
| 1.2 国内外发展趋势与现状 | 第17-25页 |
| 1.2.1 传输阵列天线的发展趋势与现状 | 第17-22页 |
| 1.2.2 微细加工工艺的发展趋势与现状 | 第22-25页 |
| 1.3 本文拟解决的关键问题 | 第25页 |
| 1.4 本文主要工作及内容 | 第25-28页 |
| 1.4.1 本文的主要研究内容 | 第25-26页 |
| 1.4.2 本文的主要工作和创新点 | 第26-27页 |
| 1.4.3 本文的结构安排 | 第27-28页 |
| 第二章 传输阵列天线的理论基础及数值计算方法研究 | 第28-48页 |
| 2.1 传输阵列天线的基本概念 | 第28-29页 |
| 2.2 传输单元的电磁理论模型和传输阵列天线设计的关键技术 | 第29-35页 |
| 2.2.1 传输单元的电磁场理论模型 | 第29-32页 |
| 2.2.2 传输阵列口面相位分布的理论计算方法 | 第32-33页 |
| 2.2.3 传输阵列天线的口径效率 | 第33-35页 |
| 2.2.4 传输阵列天线的带宽 | 第35页 |
| 2.3 传输阵列天线辐射场的理论计算方法 | 第35-40页 |
| 2.3.1 馈源辐射场的电磁理论模型 | 第35-36页 |
| 2.3.2 传输阵列天线辐射场的计算方法研究 | 第36-40页 |
| 2.4 传输阵列天线的相位误差研究 | 第40-46页 |
| 2.4.1 传输相位误差的来源 | 第40页 |
| 2.4.2 传输相位的设计误差 | 第40-44页 |
| 2.4.3 传输阵列天线的加工误差 | 第44-46页 |
| 2.4.4 传输单元的仿真近似误差 | 第46页 |
| 2.5 本章小结 | 第46-48页 |
| 第三章 多层传输单元传输特性的理论研究与数值计算分析 | 第48-70页 |
| 3.1 单层传输单元传输特性的理论研究与数值计算分析 | 第48-55页 |
| 3.1.1 单层传输单元传输特性的理论研究 | 第48-50页 |
| 3.1.2 单层传输单元传输特性的全波仿真分析 | 第50-55页 |
| 3.2 附加介质的单层传输单元传输特性的理论研究与数值计算分析 | 第55-58页 |
| 3.2.1 附加介质的单层单元传输特性的理论研究 | 第55-57页 |
| 3.2.2 附加介质的单层单元传输特性的全波仿真分析 | 第57-58页 |
| 3.3 双层传输单元传输特性的理论研究与数值计算分析 | 第58-62页 |
| 3.3.1 双层传输单元传输特性的理论研究 | 第58-60页 |
| 3.3.2 两层传输单元传输特性的全波仿真分析 | 第60-62页 |
| 3.4 三层传输单元传输特性的理论研究与数值计算分析 | 第62-66页 |
| 3.4.1 三层传输单元传输特性的理论研究 | 第62-65页 |
| 3.4.2 三层传输单元传输特性的全波仿真分析 | 第65-66页 |
| 3.5 四层传输单元传输特性的理论研究与数值计算分析 | 第66-69页 |
| 3.6 本章小结 | 第69-70页 |
| 第四章 高效率传输阵列天线研究与设计 | 第70-86页 |
| 4.1 双圆环缝隙单元传输特性的仿真计算分析 | 第70-73页 |
| 4.2 四层双圆环缝隙单元传输特性的仿真计算分析 | 第73-77页 |
| 4.3 高效率传输阵列天线设计与测试结果分析 | 第77-82页 |
| 4.4 基于馈源实际相位分布的传输阵列设计方法 | 第82-85页 |
| 4.5 本章小结 | 第85-86页 |
| 第五章 太赫兹传输阵列天线设计与制备工艺研究 | 第86-100页 |
| 5.1 太赫兹传输单元的理论设计与仿真计算分析 | 第86-90页 |
| 5.2 太赫兹传输阵列天线理论设计 | 第90-91页 |
| 5.3 太赫兹多模馈源设计与电铸工艺加工 | 第91-94页 |
| 5.4 太赫兹传输阵的制备工艺研究与实测结果分析 | 第94-97页 |
| 5.5 本章小结 | 第97-100页 |
| 第六章 总结与展望 | 第100-102页 |
| 6.1 论文的主要工作和创新点 | 第100页 |
| 6.2 课题研究展望 | 第100-102页 |
| 参考文献 | 第102-108页 |
| 作者攻读博士期间取得的研究成果 | 第108-110页 |
| 致谢 | 第110-111页 |
