| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4-6页 |
| 1 绪论 | 第9-21页 |
| 1.1 引言 | 第9页 |
| 1.2 阻变随机存储器(RRAM)的发展史与研究现状 | 第9-11页 |
| 1.3 阻变随机存储器的结构及其工作原理 | 第11-13页 |
| 1.4 阻变随机存储器的电阻转变机制 | 第13-16页 |
| 1.5 巨磁电阻效应 | 第16-17页 |
| 1.6 隧道磁电阻效应 | 第17页 |
| 1.7 磁性颗粒膜体系的磁电阻效应 | 第17-18页 |
| 1.8 本论文的思路以及工作安排 | 第18-21页 |
| 2 器件的制备及分析表征 | 第21-31页 |
| 2.1 前言 | 第21页 |
| 2.2 器件的制备 | 第21-24页 |
| 2.3 器件的结构表征 | 第24-27页 |
| 2.3.1 薄膜的厚度测试 | 第24-25页 |
| 2.3.2 X射线衍射分析 | 第25-26页 |
| 2.3.3 扫描电子显微镜 | 第26-27页 |
| 2.4 器件的性能分析 | 第27-31页 |
| 2.4.1 器件电致阻变效应的测试 | 第27-28页 |
| 2.4.2 器件磁电阻效应的测试 | 第28-29页 |
| 2.4.3 器件的磁性测试 | 第29-31页 |
| 3 Pt/ZnO-Co/Pt器件的电致阻变效应 | 第31-35页 |
| 3.1 前言 | 第31页 |
| 3.2 实验过程 | 第31-32页 |
| 3.3 Pt/ZnO-Co/Pt的电致阻变行为 | 第32-34页 |
| 3.4 本章小结 | 第34-35页 |
| 4 Pt/ZnO/ZnO-Co/Pt器件的电致阻变和磁电阻效应 | 第35-47页 |
| 4.1 前言 | 第35页 |
| 4.2 实验过程 | 第35-36页 |
| 4.3 Pt/ZnO/ZnO-Co/Pt薄膜的结构 | 第36-37页 |
| 4.4 Pt/ZnO/ZnO-Co/Pt的电致阻变与磁电阻效应 | 第37-40页 |
| 4.5 Pt/ZnO/ZnO-Co/Pt的电阻转变机制 | 第40-45页 |
| 4.6 本章小结 | 第45-47页 |
| 5 Pt/ZnO-Co/Pt器件的电致阻变和磁电阻效应 | 第47-53页 |
| 5.1 前言 | 第47页 |
| 5.2 实验过程 | 第47-48页 |
| 5.3 Pt/ZnO-Co/Pt的电致阻变与磁电阻效应 | 第48-50页 |
| 5.4 Pt/ZnO-Co/Pt的电阻转变机制 | 第50-52页 |
| 5.5 本章小结 | 第52-53页 |
| 结论 | 第53-55页 |
| 致谢 | 第55-57页 |
| 参考文献 | 第57-63页 |
| 附录 攻读硕士期间发表的论文 | 第63页 |
