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PZT薄膜晶化机理及取向控制研究

摘要第5-7页
ABSTRACT第7-9页
第一章 绪论第13-23页
    1.1 研究工作的背景与意义第13-17页
    1.2 国内外研究现状和趋势第17-20页
    1.3 本论文的主要贡献与创新第20-21页
    1.4 本论文的结构安排第21-23页
第二章 实验设备与原理第23-32页
    2.1 RF磁控溅射装置与原理第23-24页
    2.2 快速晶化装置与原理第24-25页
    2.3 等离子辅助微波晶化设备第25-26页
    2.4 锆钛酸铅薄膜(PZT)结晶性能表征方法第26-30页
        2.4.1 扫描电子显微镜分析第26-27页
        2.4.2 原子力显微镜分析第27-28页
        2.4.3 透射电子显微分析第28-29页
        2.4.4 X射线衍射分析第29-30页
    2.5 PZT 薄膜电性能测试第30-32页
        2.5.1 电滞回线的测试第30页
        2.5.2 漏电流的测试第30-31页
        2.5.3 疲劳特性的测试第31-32页
第三章 PZT薄膜的制备工艺中取向控制及尺寸效应研究第32-58页
    3.1 引言第32-33页
    3.2 PZT薄膜的制备工艺与取向生长关系研究第33-53页
        3.2.1 衬底对PZT薄膜取向生长的影响第33-45页
            3.2.1.1 衬底的选择第33-38页
            3.2.1.2 铂电极的制备和性能研究第38-40页
            3.2.1.3 铂电极的表面粗糙度与PZT薄膜取向生长和性能关系第40-45页
        3.2.2 溅射工艺参数对PZT薄膜取向生长和性能的影响第45-53页
            3.2.2.1 溅射功率对薄膜取向生长和性能的影响第45-47页
            3.2.2.2 溅射气氛对薄膜取向生长和性能的影响第47-49页
            3.2.2.3 溅射衬底温度对薄膜取向生长和性能的影响第49-53页
    3.3 PZT薄膜尺寸效应研究第53-56页
    3.4 小结第56-58页
第四章 PZT薄膜快速晶化过程中取向控制及界面特征研究第58-90页
    4.1 引言第58-59页
    4.2 快速晶化工艺参数对PZT薄膜取向生长和性能的影响第59-72页
        4.2.1 晶化温度对薄膜取向生长和性能的影响第59-62页
        4.2.2 晶化气氛对薄膜取向生长和性能的影响第62-67页
        4.2.3 升温速率对薄膜取向生长和性能的影响第67-70页
        4.2.4 保温时间对结晶性能的影响第70-72页
    4.3 PZT薄膜取向生长与界面能、晶界扩散的关系研究第72-81页
        4.3.1 界面能对薄膜取向生长的影响第72-79页
        4.3.2 晶界扩散对薄膜取向生长的影响第79-81页
    4.4 PZT薄膜取向生长模式的研究第81-84页
    4.5 薄膜与衬底界面层铂化铅团簇分子的结构研究第84-88页
    4.6 小结第88-90页
第五章 PZT薄膜分段快速晶化工艺研究第90-108页
    5.1 引言第90页
    5.2 PZT薄膜分段快速晶化方案第90-94页
    5.3 PZT薄膜分段快速晶化取向控制与性能研究第94-107页
        5.3.1 不同晶化工艺获得的PZT薄膜取向生长规律第94-100页
            5.3.1.1 常规快速晶化的PZT薄膜取向生长规律第95-96页
            5.3.1.2 分段快速晶化的PZT薄膜取向生长规律第96-98页
            5.3.1.3 二次快速晶化的PZT薄膜取向生长规律第98-100页
        5.3.2 取向外延生长的PZT薄膜形貌特征第100-102页
        5.3.3 取向外延生长的PZT薄膜的晶格畸变特征第102-104页
        5.3.4 取向外延生长的PZT薄膜的铁电性能第104-107页
    5.4 小结第107-108页
第六章 PZT薄膜微波等离子体晶化工艺研究第108-118页
    6.1 引言第108页
    6.2 PZT薄膜微波等离子体晶化方案第108-109页
    6.3 PZT薄膜微波等离子体晶化过程和性能研究第109-116页
        6.3.1 微波晶化PZT薄膜的取向生长规律第109-113页
        6.3.2 微波等离子体晶化原理初步研究第113-114页
        6.3.3 微波晶化PZT薄膜的铁电性能第114-116页
    6.4 小结第116-118页
第七章 主要结论、创新点与展望第118-122页
    7.1 主要结论第118-120页
    7.2 主要创新点第120页
    7.3 展望第120-122页
致谢第122-123页
参考文献第123-132页
攻博期间取得的研究成果第132-133页

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