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多进制LDPC码在闪存中的应用

摘要第5-6页
Abstract第6-7页
第一章 绪论第10-20页
    1.1 课题研究背景意义第11-15页
    1.2 NAND flash纠错码简介第15-18页
    1.3 论文主要工作及安排第18-20页
第二章 NAND flash简介第20-28页
    2.1 NAND flash基本原理第20-24页
        2.1.1 NAND flash结构第20-22页
        2.1.2 PE循环对NAND flash的影响第22-23页
        2.1.3 单元与单元之间的干扰第23-24页
    2.2 NAND flash信道模型第24-27页
    2.3 本章小结第27-28页
第三章 LDPC码的基本理论和构造方法第28-52页
    3.1 LDPC码的原理介绍第28-40页
        3.1.1 Tanner图表示法第29-30页
        3.1.2 校验矩阵随机构造法第30-33页
        3.1.3 准循环(Quasi-Cyclic)LDPC码第33-34页
        3.1.4 LDPC码译码算法第34-38页
        3.1.5 LDPC码译码仿真分析第38-40页
    3.2 多进制LDPC码的基本原理第40-43页
        3.2.1 有限域第41-42页
        3.2.2 多进制LDPC码及Tanner图表示法第42-43页
    3.3 多进制QC-LDPC码的构造第43-51页
        3.3.1 多进制QC-LDPC码的折叠弥散构造法第44-47页
        3.3.2 二进制到多进制QC-LDPC替换构造法第47-48页
        3.3.3 循环排列矩阵弥散替换构造法第48-49页
        3.3.4 基于有限域上两个任意子集的代数构造法第49-51页
        3.3.5 基于两个有限域子集的二进制到多进制替换构造法第51页
    3.4 本章小结第51-52页
第四章 多进制LDPC码译码算法第52-69页
    4.1 和积译码算法第52-55页
    4.2 对数域的和积译码算法第55-58页
    4.3 FFT-BP译码算法第58-59页
    4.4 最小和译码算法第59-60页
    4.5 一种通用QC-LDPC码译码算法第60-62页
    4.6 多进制QC-LDPC码的性能仿真第62-69页
结论第69-71页
参考文献第71-77页
攻读硕士学位期间取得的研究成果第77-78页
致谢第78-79页
附件第79页

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